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Das bietet MountainsSEM®

REM-Bild-Einfärbung und ‑verbesserung
  • Schnelles und einfaches Einfärben von REM-Bildern per Mausklick
  • Anwenden von Bildkorrekturen und ‑verbesserungen
3D-Rekonstruktion mit Stereopaaren
  • Rekonstruktion der 3D-Oberflächentopographie aus zwei aufeinanderfolgenden Tilt-Scans Ihrer Probe in nur wenigen Sekunden und Erhalt genauer Höhenwerte.
  • Ermitteln genauer Höhenwerte und Bewerten der Oberflächenrauheit
3D-Rekonstruktion aus 4 Bildern

Erzeugen eines 3D-Modells aus 4 Bildern, die mit einem Vier-Quadranten-Detektor aufgenommen wurden

Linienrandrauheit
  • Parameter Linienkantenrauheit (LER, Line Edge Roughness) und Linienbreitenrauheit (LWR, Line Width Roughness) für Kanten von in REM-Bildern erkannten Bändern ermitteln
Erstellen Sie 3D-Chemikalienkarten mit EDS-Daten

Erstellen spektakulärer Darstellungen für EDS(EDX)-Karten oder andere spektrale/Zusammensetzungsdaten mit aus REM-Bildern rekonstruierter Topografie

FIB-REM-Tomografie
  • Laden, Darstellen und Analysieren von Ionenfeinstrahlanlagen-Rasterelektronenmikroskopie-Bilderserien
  • Verknüpfen von Tomografie und chemischer Analyse
2D-Partikelanalyse

Leistungsstarke Partikelanalysewerkzeuge für REM-Daten zur automatischen Erkennung und Quantifizierung von Merkmalen in Bildern mithilfe einer Objekterkennung speziell für REM

Faseranalyse
  • Zwischenräume und einzelne Fasern quantifizieren, sogar bei Überlappungen
  • Faserdurchmesser und ‑richtung berechnen
  • SEM-dedizierte Fasererkennungsalgorithmen nutzen
Korrelationsanalyse
  • Kombinieren von REM-Bildern verschiedener Detektoren oder mit Daten von anderen Messgeräten wie AFM oder EDS (EDX)
  • Kolokalisieren von REM-Bildern mit Daten der Spektralanalyse

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    Wählen Sie Ihr Produkt aus

    MountainsSEM® Premium

    MountainsSEM® Expert

    MountainsSEM® Color

    Geräte-Kompatibilität

    Jedes Rasterelektronenmikroskop (REM)

    Produktfunktionen

    Schnelle REM-Bild-Einfärbung

    Grundlegende Analyse- und Messfunktionen

    Tools zur Bildkorrektur und -verbesserung

    Ultraschnelle 3D-Rekonstruktion aus 2 oder 4 REM-Bildern

    Sofortige 3D-Verbesserung von REM-Einzelbildern

    EDS/EDX-Karten-Overlays für Oberflächentopografie

    Optionale Module

    Korrelative Mikroskopie

    2D-Partikelanalyse und ‑Charakterisierung

    Option Option

    Faseranalyse

    Option Option

    FIB-REM-Tomografie-Visualisierung und ‑Analyse

    Option

    Konturanalyse

    Option Option

    Unterstützung für Schalen (Freiformflächen)

    Option

    Erweiterte Profilanalyse

    Option Option

    Erweiterte Topografieanalyse

    Option Option

    Fourier- und Wavelets-Analyse

    Option Option

    Spektroskopie

    Option Option

    Dickenanalyse

    Option Option

    4D-Oberflächenveränderung

    Option Option
    Inbegriffen
    Option
    Als Option erhältlich
    Nicht kompatibel

    Empfohlene optionale Module

    Die folgenden optionalen Module für fortgeschrittene und spezialisierte Anwendungen sind für MountainsSEM® verfügbar.

    Chemische Würfel (Modul)

    Vollständige Visualisierung und Analyse von Multi-Channel-Würfeln mit Zusammensetzungsdaten

    Faseranalyse (Modul)

    Fasermorphologie einschließlich Durchmesser und Richtung in SEM-Bildern (SE- und BSE-Modus), Lichtmikroskopiebildern und bei topografischen Daten analysieren.

    Kritische Abmessungen und Vertiefungen (Modul)

    Kritische Abmessungen berechnen und Linienkantenrauheit/Linienbreitenrauheit in Halbleiterherstellungsprozessen charakterisieren.

    Schalen-Erweiterung (Modul)

    Freiformflächen-Management, komplexe Formanalyse, hochwertige 3D-Visualisierung

    Spektroskopie (Modul)

    Spektroskopiedaten visualisieren, analysieren und korrelieren: IR, Raman, TERS, EDS/EDX, XRF und mehr

    Konturanalyse (Modul)

    Grundlegende geometrische Bemaßung und Toleranzüberwachung von Konturprofilen und horizontalen aus Bildern oder Oberflächen extrahierten Konturen.

    Partikelanalyse (Modul)

    Umfassendes Toolset zum Nachweis und zur Analyse von Partikeln, Poren, Körnern, Inseln usw. auf strukturierten Oberflächen

    Erweiterte Topographie (Modul)

    Weiterführende Untersuchungen, Parameter und Filter zur („flächenhaften“) 3D-Oberflächentexturanalyse

    Dickenanalyse (Modul)

    Globale oder zonenspezifische interaktive Dickencharakterisierung basierend auf einem Paar von Oberflächen oder Profilen

    Erweitertes Profil (Modul)

    Erweiterte Profilfilterung, Fourier-Analyse, Fraktalanalyse und statistische Analyse von Profilserien

    Fourier & Wavelets (Modul)

    FFT-basierte Texturanalyse, anspruchsvolle FFT-Filterung, Multiskalenanalyse mit Wavelets

    4D-Oberflächenveränderung (Modul)

    Analyse von Oberflächenentwicklung in Bezug auf Zeit, Temperatur, Magnetfeld oder eine andere Dimension

    30-Tage kostenlose Testversion

    Free trial

    Probieren Sie die Mountains®10-Software kostenlos aus