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Erweiterte 3D-Bildanalyse für Rasterelektronen-mikroskope (REM)

Die Software MountainsSEM® ist eine umfassende, dedizierte Lösung für Ihre Rasterelektronenmikroskop-Bildanalyse, der die weltweit größten REM-Hersteller vertrauen.
Objekte in REM-Bildern mit nur ein paar Klicks einfärben - Ein 3D-Modell Ihrer Probe aus einem oder mehreren Bildscans rekonstruieren - Objekte in REM-Bildern messen (Längen, Flächen, Winkel, Volumen usw.) - Vertikale Profile und horizontale Konturen extrahieren - Partikelanalysen durchführen - REM-Bilder mit Daten von anderen Geräten für Korrelationsuntersuchungen kombinieren - REM-Bilder korrigieren und verbessern - Helligkeit und Kontrast anpassen - Rauschen entfernen - Bild-Stitching bei großen Proben - Oberflächenrauheit charakterisieren

Das bietet MountainsSEM®

REM-Bild-Einfärbung

Einfaches Einfärben von REM-Bildern: Schwarz-Weiß mühelos mit nur wenigen Klicks in Farbe verwandeln. Automatisches Erkennen von Objekten. Es müssen keine Ebenen erstellt werden oder mit der Transparenz gespielt werden.

3D-Rekonstruktion mit Stereopaaren

Rekonstruktion der 3D-Oberflächentopographie aus zwei aufeinanderfolgenden Tilt-Scans Ihrer Probe in nur wenigen Sekunden und Erhalt genauer Höhenwerte.

3D-Rekonstruktion aus 4 Bildern

Aktualisierung Ihrer SEM-Bilder in Sekundenschnelle auf 3D: Erzeugen eines 3D-Modells aus 4 Bildern, die mit einem Vier-Quadranten-Detektor aufgenommen wurden, zur Visualisierung ansonsten unsichtbarer Details.

3D-Rendering aus Einzelbildern

Generieren von groben 3D-Renderings aus REM-Einzelbildern zur Verbesserung der visuellen Bildinterpretation (im Gegensatz zur 3D-Rekonstruktion aus Stereopaaren sind die Höhenwerte in diesem Fall nicht metrologisch).

Erweiterte Partikelanalyse

Automatisches Erkennen und Zählen von Partikeln und anderen Mikrostrukturen, Berechnung von über 70 verschiedenen Merkmalen (Fläche, Umfang, Durchmesser usw.) und Sortierung in benutzerdefinierte Klassen.

Merkmale skalieren & messen

Maßstabsgerechtes Einstellen von Bildern und exaktes Messen von Merkmalen direkt im Bild: Längen, Flächen, Umfänge, Winkel usw. Profile und horizontale Konturen (Querschnitte) extrahieren und messen.

Bildkorrektur und -verbesserung

Korrektur und Verbesserung von REM-Bildern: Glätten, Bildartefakte entfernen, Beleuchtung korrigieren sowie Helligkeit und Kontrast von REM-Bildern interaktiv anpassen.

Bild-Stitching

Mehrere REM-Bilder mit überlappenden Bildbereichen zur Erzeugung eines einzigen hochauflösenden Bildes zusammen-stitchen.

Korrelationsanalyse

Kombination von REM-Bildern verschiedener Detektoren (SE + BSE) oder mit Daten von anderen Messinstrumenten (AFM/SPM, 3D-Lichtmikroskope) zur Korrelationsanalyse.

Vorteile

Schließen Sie sich über 20.000 Mountains®-Anwendern weltweit an und nutzen Sie die Oberflächenanalyse-Software, der die meisten führenden Hersteller vertrauen.

Vorteile

Dank des einzigartigen Arbeitsablaufs von MountainsSEM® können Sie alle bereits auf Ihre Daten angewandten Analyseschritte sehen und sofort zu einem beliebigen Schritt im Prozess zurückkehren. Unabhängig davon, welchen Schritt Sie gerade bearbeiten, alle abhängigen Schritte werden automatisch aktualisiert.

Vorteile

Organisation der verschiedenen Schritte Ihrer REM-Bildverarbeitung (Originalbilder, Abstandsmessungen, Partikelstatistiken usw.) auf einer oder mehreren Seiten und zur direkten Veröffentlichung in verschiedenen Formaten (PDF, Word und Excel), um sie mit Kollegen, Studenten, Kunden usw. zu teilen.

Vorteile

Automatisieren Sie sich wiederholende REM-Arbeitsschritte und beschleunigen Sie Ihren Analyseprozess: Speichern Sie Analysesequenzen und wenden Sie sie automatisch auf große Datenmengen an.

Vorteile

Arbeiten Sie in Ihrer Muttersprache und lassen Sie sich von unserem internationalen Support-Team bei der Verwendung von MountainsSEM® helfen.

Vorteile

Verlassen Sie sich auf die umfassende Erfahrung von Digital Surf bei der Entwicklung von Analysesoftware für Industrie und Wissenschaft weltweit. Die Mehrheit der französischen Forschungslabors vertraut auf die Präzision der Oberflächenmetrologie und -analyse von Mountains. Die Mehrheit der französischen Forschungslabors vertraut auf die Präzision von Mountains®.

Wählen Sie Ihr Produkt aus

	MountainsSEM® Premium	MountainsSEM® Expert	MountainsSEM® Color
Geräte-Kompatibilität	Jedes Rasterelektronenmikroskop (REM)
Grundlegende Analyse- und Mess-Funktionen
Leistungsstarke halbautomatische Einfärbungsfunktion
Modernste Tools zur 2D-Analyse- und Charakterisierung
Sofortige 3D-Verbesserung von REM-Einzelbildern
Tools zur Bildkorrektur und -verbesserung
Ultraschnelle 3D-Rekonstruktion aus Stereo- oder 4-Quadranten-REM-Bildern
Visualisierung und Analyse von Schalendaten (Freiformflächen)

Angebot anfordern

Empfohlene optionale Module

Folgende optionale Module für fortgeschrittene und spezialisierte Anwendungen sind für die Produktreihe MountainsSEM® verfügbar.

Spektroskopie (Modul)

Visualisierung und Analyse von Spektren und hyperspektralen Würfeln unter Verwendung von Raman- und IR-Spektrometern, CITS usw.

SPM-Erweiterung (Modul)

Lesen von AFM-/SPM-Dateiformaten, Arbeiten mit Multi-Channel-SPM-Bildern und Korrektur von Datenerfassungsfehlern

4D-Serie (Modul)

Analyse von Oberflächenentwicklung in Bezug auf Zeit, Temperatur, Magnetfeld oder eine andere Dimension

Erweiterte Topographie (Modul)

Weiterführende Untersuchungen, Parameter und Filter zur („flächenhaften“) 3D-Oberflächentexturanalyse

30-Tage kostenlose Testversion

Probieren Sie die Mountains®8-Software kostenlos aus (Mountains®9 verfügbar ab Juli)

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