REM-Bildanalyse-software, auf die Sie sich verlassen können

Einfaches Einfärben von REM-Bildern:

• Wandeln Sie Schwarz-Weiß mühelos mit nur wenigen Klicks in Farbe um.
• Objekte werden in der Software automatisch erkannt und eingefärbt.
• Sie müssen weder Schichten erstellen noch verschiedene Transparenzstufen ausprobieren.

Weitere Informationen: www.digitalsurf.com/news/add-color-to-sem-images-in-only-a-few-steps/

Korrektur und Verbesserung von REM-Bildern:

• Glätten
• Artefakte entfernen
• Beleuchtung korrigieren
• Helligkeit und Kontrast anpassen

• Wechseln Sie von normalen 2D-Bildern zu topografischen Modellen.
• Rekonstruieren Sie in nur wenigen Sekunden ein 3D-Modell aus zwei aufeinanderfolgenden Tilt-Scans Ihrer Probe.
• Ermitteln Sie exakte Höhenwerte aus hochwertigen Stereopaaren.
• Bewerten von Oberflächenbeschaffenheit, Oberflächenrauheit usw.

Weitere Informationen: www.digitalsurf.com/blog/7-tips-for-producing-sem-stereo-pairs/

• Wandeln Sie REM-Bilder in Sekundenschnelle in 3D um.
• Erzeugen Sie ein 3D-Modell aus 4 Bildern, die mit einem Vier-Quadranten-Detektor aufgenommen wurden, um ansonsten unsichtbare Details zu visualisieren.
• Erzielen Sie eine verbesserte Darstellung durch Überlagern des kombinierten REM-Bildes auf die 3D-Topografie mit individueller Transparenzeinstellung.

Weitere Informationen: www.digitalsurf.com/blog/using-a-four-quadrant-detector-in-3d-reconstruction/

• Erzeugen grober 3D-Darstellungen aus einzelnen REM-Bildern
• Verbessern Sie die visuellen Bildinterpretation (im Gegensatz zur 3D-Rekonstruktion aus Stereopaaren sind die Höhenwerte in diesem Fall nicht metrologisch).

• Erstellen Sie spektakuläre Darstellungen für EDS(EDX)-Karten oder andere spektrale/Zusammensetzungsdaten mit REM-Bildern (oder ggf. Topografie).
• Heben Sie Oberflächeneigenschaften oder ihre Komposition hervor.
• Nutzen Sie vielfältige Rendering-Optionen (Paletten, Farbmischung, Transparenz usw.).

• Laden, betrachten und analysieren Sie Ionenfeinstrahlanlagen-Rasterelektronenmikroskopie-Bilderserien in Form von 3D-Voxel-Würfeln.
• Verknüpfen von Tomografie und chemischer Analyse
• Schneiden Sie durch Materialien: Legen Sie Segmentierung und Animationseinstellungen fest.
• Erstellen Sie 3D-Partikel- und ‑Kornstatistiken aus 3D-Voxel-Würfeln.

• Erkennen und quantifizieren Sie schnell Merkmale in praktisch allen REM-Bildern.
• Profitieren Sie von der dedizierten Bildzerlegung und Objekterkennung für REM-SE und REM-BSE.
• Berechnen Sie über 70 verschiedenen Eigenschaften (Flächeninhalt, Umfang, Durchmesser usw.) und nehmen Sie eine Sortierung in individuelle Klassen vor.
• Erstellen Sie Statistiken, Kontrolldiagramme, Streudiagramme, Histogramme und mehr.

• Quantifizieren Sie einzelne Fasern unabhängig vom Zustand (separat, berührend oder überlappend).
• SEM-Bilder (SE- und BSE-Modus) einer Vielzahl von Proben analysieren
• Fasern und Zwischenräume automatisch anhand dedizierter Erkennungsmethoden erkennen
• Fasermorphologie und ‑darstellung analysieren
  • Histogramm der Faserdurchmesser
  • Tabelle mit den Parametern der einzelnen Fasern und Zwischenräume, darunter:
    • Faserdurchmesser (Durchschnitt, kleinster und größter Wert, Standardabweichung)
    • durchschnittlicher Faserverlauf (Faserrichtung)
    • Zwischenraumdurchmesser
• Weiterlesen

• Kombinieren Sie REM-Bilder verschiedener Detektoren (SE + BSE) oder mit Daten von anderen Messgeräten (AFM/SPM, 3D-Lichtmikroskope) zur Korrelationsanalyse.
• Kolokalisieren Sie REM-Bilder mit Daten der Spektralanalyse (EDX, Kathodolumineszenz usw.) und erstellen Sie eindrucksvolle chemische Karten.