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Das bietet MountainsLab®

Datenzusammenführung
  • Daten mehrerer Instrumente zusammenführen (Profilometer, Mikroskop)
  • Analyse beschleunigen
  • Beliebige Dokumente anderer Mountains®-Anwender laden
  • Daten von praktisch allen Oberflächen- und Bildanalyseinstrumenten verarbeiten
Mit jedem Gerät kompatibel
  • Daten von Profilometern, Rasterelektronenmikroskopen (SEM), Rastersondenmikroskopen (SPM) und spektroskopischen Techniken verarbeiten
  • Hunderte Dateiformate laden
Korrelationsanalyse
  • Korrelationsanalysen durchführen
  • Daten von verschiedenen Instrumenten mit der Kolokalisierungsfunktion kombinieren und überlagern
  • Erweiterte Rendering-Optionen nutzen
Analyse der Oberflächentextur
  • Von der Erfahrung von Digital Surf in der Oberflächenmesstechnik profitieren
  • Oberflächenbeschaffenheit analysieren
  • Erweiterte Filter und Parameter nutzen
Erweiterte Partikel- und Faseranalyse
  • Partikel und Fasern auf beliebigen Oberflächen erkennen und quantifizieren
  • Von anwendungsorientierten Segmentierungsverfahren profitieren
  • Partikel auf der Grundlage von Merkmalen in Klassen gruppieren
  • Statistiken und Grafiken erstellen
Erstellen von Statistiken
  • Statistiken für statische oder dynamische Datenpopulationen erstellen
  • Statistikberichte erstellen
  • Daten von MountainsLab® automatisch erkennen und aktualisieren lassen
  • Daten grafisch darstellen
Erweiterte Konturanalyse
  • Abmessungen für Profile automatisch generieren
  • Profile mit CAD-Daten oder einer nominalen Form vergleichen
  • Formabweichungen grafisch darstellen
Kraftspektroskopie
  • Kraftkurven und Kraftvolumen analysieren
  • Adhäsionskraft ermitteln, Wormlike-Chain-Modelle (WLC) für die Proteinentfaltung anwenden, Youngsche Elastizitätsmodulkarten erzeugen usw.
Datenverarbeitung für Spektroskopie-Verfahren
  • Spektren, Spektralkarten und hyperspektrale Bilder visualisieren und analysieren
  • Spektroskopiedaten mit Daten und Bildern anderer Instrumente korrelieren
  • Multi-Channel-Würfel mit Zusammensetzungsdaten laden
REM-Bild-Einfärbung
  • Objekten in REM-Bildern mit nur wenigen Klicks einfärben
  • Automatische Objekterkennung
  • Schneller als Bildbearbeitungssoftware
3D-REM-Bildrekonstruktion
  • 3D-Oberflächentopografie aus zwei aufeinanderfolgenden, geneigten Scans einer Probe oder 4 Bildern, die mit einem 4-Quadranten-Detektor gescannt wurden, erzeugen
Lernen & Lehren
  • Tutorials und gebrauchsfertige Vorlagen für unterschiedliche Instrumententypen nutzen
  • Mit Vorlagen auf einfache Weise die Oberflächen- und Bildanalyse-Routinen erklären

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    Wählen Sie Ihr Produkt aus

    MountainsLab® Premium

    MountainsLab® Expert

    Geräte-Kompatibilität

    Alle Arten von Oberflächenmess- und Bildgebungsinstrumenten: 2D-/3D-Profilometer, Lichtmikroskope, Rasterelektronenmikroskope, Rastersondenmikroskope, Spektrometer usw.

    Wichtigste Funktionen

    Rauheits- und Welligkeitsanalyse von Profilen und Oberflächen

    SEM-Bild-Einfärbung und 3D-Rekonstruktion aus Stereo- oder 4-Quadranten-SEM-Bildern

    Korrekturwerkzeuge, Parameter und Filter für die SPM-Bildanalyse

    Spektralkartenverarbeitung und Spektralbildkorrektur sowie ‑verbesserung

    Korrekturmessung und Filterwerkzeuge für mit Lichtmikroskopen und anderen Verfahren gewonnene Bilder

    Statistische Analyse statischer und dynamischer Populationen

    Optionale Module

    Erweiterte Profilanalyse

    Profilparameter im Automobilbereich

    Erweiterte Topografieanalyse

    Partikelanalyse

    Korrelationsanalyse

    Spektroskopie

    Konturanalyse

    Option

    Erweiterte Konturanalyse einschließlich CAD-Vergleich

    Option

    Fourier- und Wavelets-Analyse

    Option

    Faseranalyse von Bildern und Topografie

    Option

    Linsenanalyse

    Option

    Kraftkurven- und Kraftvolumenanalyse

    Option

    IV-Spektroskopie

    Option

    Dickenanalyse

    Option

    4D-Oberflächenveränderungsanalyse

    Option

    Chemische Würfel

    Option

    Unterstützung für Schalen (Freiformflächen)

    Option

    Schalentopografie für messtechnische Analysen

    Option

    Schale mit CAD vergleichen

    Option Option

    Multiskalen-Fraktal-Analyse

    Option Option

    Drallanalyse (Verdrehung)

    Option Option
    Inbegriffen
    Option
    Als Option erhältlich
    Nicht kompatibel

    Empfohlene optionale Module

    Die folgenden optionalen Module für fortgeschrittene und spezialisierte Anwendungen sind für MountainsLab® verfügbar.

    Schalen-Erweiterung (Modul)

    Freiformflächen-Management, komplexe Formanalyse, hochwertige 3D-Visualisierung

    Schalentopografie (Modul)

    Metrologischer Werkzeugkasten für Schalendaten (Freiformflächen)

    Schale-CAD-Vergleich (Modul)

    Gemessene Schalendaten (Ist) einfach und effizient mit CAD-Modellen (Soll) oder erzeugten Netzen vergleichen

    IV-Spektroskopie (Modul)

    3D-Visualisierung und Analyse von IV-Spektroskopiebildern und einzelnen IV-Kurvenanalysen (einschließlich CITS-Daten)

    Chemische Würfel (Modul)

    Vollständige Visualisierung und Analyse von Multi-Channel-Würfeln mit Zusammensetzungsdaten

    Spektroskopie (Modul)

    Spektroskopiedaten visualisieren, analysieren und korrelieren: IR, Raman, TERS, EDS/EDX, XRF und mehr

    Multiskalen-Fraktal-Analyse (Modul)

    Durchführung einer Multiskalenanalyse basierend auf Längen- oder Flächenskalenanalysen (früher in Sfrax-Software)

    Kraft-Abstands-Kurven-Analyse (Modul)

    Analysieren von Kraftspektroskopiedaten: Kraftkurven (Kraft-Abstands-Kurven) und Kraftvolumen. Messen von Adhäsionsereignissen, Nanoindentation und Anpassen von WLC-Modellen.

    Drallanalyse (Twist) (Modul)

    Drallanalyse (Twist) der 2. Generation für die Automobilindustrie

    Konturanalyse (Modul)

    Grundlegende geometrische Bemaßung und Toleranzüberwachung von Konturprofilen und horizontalen aus Bildern oder Oberflächen extrahierten Konturen.

    Erweiterte Konturanalyse (Modul)

    Fortschrittliche Tools zur Bemaßung und Toleranzüberwachung, DXF-CAD-Vergleiche, gotische Bögen

    4D-Oberflächenveränderung (Modul)

    Analyse von Oberflächenentwicklung in Bezug auf Zeit, Temperatur, Magnetfeld oder eine andere Dimension

    Fourier & Wavelets (Modul)

    FFT-basierte Texturanalyse, anspruchsvolle FFT-Filterung, Multiskalenanalyse mit Wavelets

    Faseranalyse (Modul)

    Fasermorphologie einschließlich Durchmesser und Richtung in SEM-Bildern (SE- und BSE-Modus), Lichtmikroskopiebildern und bei topografischen Daten analysieren.

    Linsenanalyse (Modul)

    Asphärische Oberflächen und Profile für bildgebende Systeme, Sensoren und Laseranwendungen analysieren oder simulieren

    Dickenanalyse (Modul)

    Globale oder zonenspezifische interaktive Dickencharakterisierung basierend auf einem Paar von Oberflächen oder Profilen

    Kritische Abmessungen und Vertiefungen (Modul)

    Kritische Abmessungen berechnen und Linienkantenrauheit/Linienbreitenrauheit in Halbleiterherstellungsprozessen charakterisieren.

    30-Tage kostenlose Testversion

    Free trial

    Probieren Sie die Mountains®10-Software kostenlos aus