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Das bietet MountainsLab®

Datenzusammenführung
  • Daten mehrerer Instrumente zusammenführen (Profilometer, Mikroskop)
  • Analyse beschleunigen
  • Beliebige Dokumente anderer Mountains®-Anwender laden
  • Daten von praktisch allen Oberflächen- und Bildanalyseinstrumenten verarbeiten
Mit jedem Gerät kompatibel
  • Daten von Profilometern, Rasterelektronenmikroskopen (REM), Rastersondenmikroskopen (SPM) und Spektrometern verarbeiten
  • Hunderte Dateiformate laden
Korrelationsanalyse
  • Korrelationsanalysen durchführen
  • Daten von verschiedenen Instrumenten mit der Kolokalisierungsfunktion kombinieren und überlagern
  • Erweiterte Rendering-Optionen nutzen
Analyse der Oberflächentextur
  • Von der Erfahrung von Digital Surf in der Oberflächenmesstechnik profitieren
  • Oberflächenbeschaffenheit analysieren
  • Erweiterte Filter und Parameter nutzen
Erweiterte Partikelanalyse
  • Partikel auf beliebigen Oberflächen ausfindig machen und quantifizieren
  • Von anwendungsorientierten Segmentierungsverfahren profitieren
  • Partikel auf der Grundlage von Merkmalen in Klassen gruppieren
  • Statistiken und Grafiken erstellen
Erstellen von Statistiken
  • Statistiken für statische oder dynamische Datenpopulationen erstellen
  • Statistikberichte erstellen
  • Daten von MountainsLab® automatisch erkennen und aktualisieren lassen
  • Daten grafisch darstellen
Erweiterte Konturanalyse
  • Abmessungen für Profile automatisch generieren
  • Profile mit CAD-Daten oder einer nominalen Form vergleichen
  • Formabweichungen grafisch darstellen
Kraftspektroskopie
  • Kraftkurven und Kraftvolumen analysieren
  • Adhäsionskraft ermitteln, Wormlike-Chain-Modelle (WLC) für die Proteinentfaltung anwenden, Youngsche Elastizitätsmodulkarten erzeugen usw.
Datenverarbeitung für Spektroskopie-Verfahren
  • Spektralkarten und hyperspektrale Bilder visualisieren und analysieren
  • Spektroskopiedaten mit Daten und Bildern anderer Instrumente korrelieren
  • Multi-Channel-Würfel mit Zusammensetzungsdaten laden
  • Partikelanalyse durchführen
REM-Bild-Einfärbung
  • Objekten in REM-Bildern mit nur wenigen Klicks einfärben
  • Automatische Objekterkennung
  • Schneller als Bildbearbeitungssoftware
3D-REM-Bildrekonstruktion
  • 3D-Oberflächentopografie aus zwei aufeinanderfolgenden, geneigten Scans einer Probe oder 4 Bildern, die mit einem 4-Quadranten-Detektor gescannt wurden, erzeugen
Lernen & Lehren
  • Tutorials und gebrauchsfertige Vorlagen für unterschiedliche Instrumententypen nutzen
  • Mit Vorlagen auf einfache Weise die Oberflächen- und Bildanalyse-Routinen erklären

Wählen Sie Ihr Produkt aus

MountainsLab® Premium MountainsLab® Expert

Geräte-Kompatibilität

Alle Arten von Oberflächenmess- und Bildgebungsinstrumenten: 2D-/3D-Profilometer, Rasterelektronenmikroskope, Rastersondenmikroskope, Spektrometer usw.

Korrelationsanalyse

Partikel- und Porenanalyse

REM-Bild-Einfärbung und 3D-Rekonstruktion aus Stereo- oder 4-Quadranten-REM-Bildern

Statistische Analyse statischer und dynamischer Populationen

Ultimative Sammlung an 2D-/3D-Oberflächentextur-Parametern und Filtern

Kraftkurven- und Kraftvolumenanalyse

Analyse de contour avancée

Visualisierung, Analyse und Korrelation von mittels Spektroskopie-Verfahren gewonnenen Daten

Visualisierung und Analyse von Multi-Channel-Würfeln mit Zusammensetzungsdaten

Analyse von Schalen (Freiformflächen)

Empfohlene optionale Module

Die folgenden optionalen Module für fortgeschrittene und spezialisierte Anwendungen sind für MountainsLab® verfügbar.

Schalen-Erweiterung (Modul)

Freiformflächen-Management, komplexe Formanalyse, hochwertige 3D-Visualisierung

Schalentopografie (Modul)

Metrologischer Werkzeugkasten für Schalendaten (Freiformflächen)

IV-Spektroskopie (Modul)

3D-Visualisierung und Analyse von IV-Spektroskopiebildern und einzelnen IV-Kurvenanalysen (einschließlich CITS-Daten)

Chemische Würfel (Modul)

Vollständige Visualisierung und Analyse von Multi-Channel-Würfeln mit Zusammensetzungsdaten

Spektroskopie (Modul)

Visualisierung und Analyse von Spektren und hyperspektralen Würfeln unter Verwendung von Raman- und IR-Spektrometern, CITS usw.

Multiskalen-Fraktal-Analyse (Modul)

Durchführung einer Multiskalenanalyse basierend auf Längen- oder Flächenskalenanalysen (früher in Sfrax-Software)

Kraft-Abstands-Kurven-Analyse (Modul)

Analysieren von Kraftspektroskopiedaten: Kraftkurven (Kraft-Abstands-Kurven) und Kraftvolumen. Messen von Adhäsionsereignissen, Nanoindentation und Anpassen von WLC-Modellen.

Drallanalyse (Twist) (Modul)

Drallanalyse (Twist) der 2. Generation für die Automobilindustrie

Konturanalyse (Modul)

Grundlegende geometrische Bemaßung und Toleranzüberwachung von Konturprofilen und horizontalen aus Bildern oder Oberflächen extrahierten Konturen.

Erweiterte Konturanalyse (Modul)

Fortschrittliche Tools zur Bemaßung und Toleranzüberwachung, DXF-CAD-Vergleiche, gotische Bögen

4D-Serie (Modul)

Analyse von Oberflächenentwicklung in Bezug auf Zeit, Temperatur, Magnetfeld oder eine andere Dimension

Fourier & Wavelets (Modul)

FFT-basierte Texturanalyse, anspruchsvolle FFT-Filterung, Multiskalenanalyse mit Wavelets

30-Tage kostenlose Testversion

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