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Korrelationsanalyse
Verarbeiten von Spektralkarten
Verarbeiten und Verbessern von Bildern
Darstellen von Zusammensetzungsdaten als Overlay auf Bildern
Darstellung der Zusammensetzung von Materialen in echtem 3D
Verarbeiten und Analysieren von Spektren
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Geräte-Kompatibilität |
Spektroskopie-Verfahren: Raman, TERS, IR, nanoIR, Fluoreszenz, Fotolumineszenz, Kathodolumineszenz, EDX/EDS, XRF |
Spektroskopie-Verfahren: Raman, TERS, IR, nanoIR, Fluoreszenz, Fotolumineszenz, Kathodolumineszenz, EDX/EDS, XRF |
Spektroskopie-Verfahren: Raman, TERS, IR, nanoIR, Fluoreszenz, Fotolumineszenz, Kathodolumineszenz, EDX/EDS, XRF |
Kolokalisierung für die Korrelationsanalyse |
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Verarbeitung, Verbesserung und Zusammenstellung von Spektralkarten |
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Bildkorrektur und -verbesserung |
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Analyse der Topografie (anhand von AFM-Bildern) |
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Hochwertige Overlays aus Zusammensetzungsdaten zur Topografie |
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Verarbeiten und Analysieren von Spektren |
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Partikelanalyse |
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Visualisierung und Analyse (chemischer) Multi-Channel-Würfel |
optionales Modul |
optionales Modul |
optionales Modul |