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Das bietet MountainsMap®

Rauheits- und ISO-Parameter

Analyse der Rauheits- und Berechnung der Oberflächentexturparameter gemäß ISO 25178, ISO 4287, ISO 13565, ISO 21920 und weiteren nationalen Normen

Datenkorrektur

Analysevorbereitung Ihrer Daten durch Entfernen von Ausreißern, lokalen Defekten und Rauschen.

Oberflächengeometrie

Analyse der Oberflächengeometrie: Berechnung von Abständen, Flächen, Stufenhöhen, Volumen und vielem mehr.

Oberflächen-Stitching

Ausweitung des Profilometerbereichs. Verwendung von Stitching, um den Bereich aller Achsen (einschließlich Z) zu erweitern und die Gerätebeschränkungen zu umgehen.

Teil-Oberflächen-Analyse

Extraktion und Analyse von Regions of Interest, um sie dann auf die gleiche Weise wie komplette gemessene Oberflächen zu untersuchen.

Analyse von Schalen (Freiformflächen)
  • Laden, Visualisieren und Analysieren von Freiformflächen (Schalen)
  • Analysieren der Oberflächenbeschaffenheit der gesamten Schale oder Extrahieren eines separat zu analysierenden Bereichs
Erweiterte Konturanalyse
  • Durchführen einer vollständigen Analyse von Form- und Lagetoleranz
  • Angleichen von Elementen, Berechnen von Abweichungen und Abmessungen
  • Vergleich mit CAD-Modellen
Partikelanalyse und mehr

Durchführen erweiterter Analysen der Oberflächenbeschaffenheit:

  • Partikelanalyse
  • Fourier und Wavelets
  • 4D-Analyse (Veränderung der Oberfläche im Zeitverlauf usw.)
  • und mehr
Korrelationsanalyse

Durchführen von Korrelationsanalysen und Kolokalisierung der Daten aller Profilometer oder Mikroskope mit ein und derselben Software.

Wählen Sie Ihr Produkt aus

MountainsMap® Premium MountainsMap® Expert MountainsMap® Imaging Topography MountainsMap® Topography MountainsMap® Profile

Geräte-Kompatibilität

Alle Profil-Messgeräte and flächenhaft arbeitende Messgeräte

Alle Profil-Messgeräte and flächenhaft arbeitende Messgeräte

Flächenhaft arbeitende optische Profilometer, die Topografiekarten zusammen mit einem Intensitäts- bzw. Farbbild erzeugen

  • Konfokalmikroskope
  • Fokusvariationsmikroskope
  • Weißlichtinterferometer
  • Flächenhaft arbeitende optische oder taktile Profilometer zur Erstellung von Topografiekarten
  • Flächenhaft arbeitende taktile Profilometer
  • Scannende optische Einpunkt-Profilometer

2D-Kontaktprofilometer und optische Profilometer

Analyse der Profilrauheit und ‑welligkeit

Grundlegende Analyse von Oberflächendaten

Stitchen von Bildern und Oberflächen, Beseitigung von Ausreißern und Multifokus-Rekonstruktion

Unterstützung von Dateiformaten aus optischen Profilometern

Automobil-Parameter, erweiterte Filter

Fortschrittliche Analysewerkezeuge (Profilometrie)

Vollständige Liste von Parametern für die Analyse der Oberflächenbeschaffenheit

Unterstützung von Zeitreihen für Flächen und Freiformflächen (Schalen)

Empfohlene optionale Module

Die folgenden optionalen Module für fortgeschrittene und spezialisierte Anwendungen sind für MountainsMap® verfügbar.

Schalen-Erweiterung (Modul)

Freiformflächen-Management, komplexe Formanalyse, hochwertige 3D-Visualisierung

Schalentopografie (Modul)

Metrologischer Werkzeugkasten für Schalendaten (Freiformflächen)

Multiskalen-Fraktal-Analyse (Modul)

Durchführung einer Multiskalenanalyse basierend auf Längen- oder Flächenskalenanalysen (früher in Sfrax-Software)

Automobilindustrie (Modul)

Bewerten der Funktionsleistung, mit einem vollständigen Satz von Profilparametern, die von der Automobilindustrie entwickelt wurden

Drallanalyse (Twist) (Modul)

Drallanalyse (Twist) der 2. Generation für die Automobilindustrie

Konturanalyse (Modul)

Grundlegende geometrische Bemaßung und Toleranzüberwachung von Konturprofilen und horizontalen aus Bildern oder Oberflächen extrahierten Konturen.

Erweiterte Konturanalyse (Modul)

Fortschrittliche Tools zur Bemaßung und Toleranzüberwachung, DXF-CAD-Vergleiche, gotische Bögen

4D-Oberflächenveränderung (Modul)

Analyse von Oberflächenentwicklung in Bezug auf Zeit, Temperatur, Magnetfeld oder eine andere Dimension

Partikelanalyse (Modul)

Umfassendes Toolset zum Nachweis und zur Analyse von Partikeln, Poren, Körnern, Inseln usw. auf strukturierten Oberflächen

Erweitertes Profil (Modul)

Erweiterte Profilfilterung, Fourier-Analyse, Fraktalanalyse und statistische Analyse von Profilserien

Fourier & Wavelets (Modul)

FFT-basierte Texturanalyse, anspruchsvolle FFT-Filterung, Multiskalenanalyse mit Wavelets

30-Tage kostenlose Testversion

Free trial

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