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Das bietet MountainsMap®

Berechnung genormter Parameter

Berechnen Sie Rauheits- und Texturparameter auf Profilen und Oberflächen, unter Verwendung von ISO-, ASME- und VDA-Normen, einschließlich Ra, Rq, Sa, Sq und vielen mehr.

Filtern & Form-Entfernung
  • S- und L-Filter gemäß ISO 16610 anwenden.
  • Form entfernen, unter Verwendung von polynomischen oder geometrischen Anpassungen und Nivellieren von Oberflächendaten vor der Analyse.
Vorbereitung und Korrektur optischer Messungen

Saubere und korrekte optische Messungen durch Entfernen von Ausreißern, Ergänzen fehlender Daten, Setzen von Schwellenwerten bei Punkten geringer Intensität und Reduzieren von Rauschen vor der Analyse.

Charakterisierung funktionaler Oberflächen

Hohl-/Material-Volumen, Traganteil, Schmiervolumen und Material-verdrängung zur leistungsorientierten Oberflächenbewertung.

Partikelanalyse & deterministische Oberflächen
  • Partikel, Körner, Poren und MEMS-Merkmale usw. unter Verwendung mehrerer Erkennungsmethoden automatisch erkennen, klassifizieren und analysieren.
  • Merkmals-Klassifizierung und statistische Analyse durchführen.
  • ISO-konforme Feature-Parameter verwenden.
  • Auf Tools zur automatischen Partitionierung, Strukturerkennung und geometrische Kontrolle von Oberflächen zugreifen.
Geometrische Bemaßung und Tolerierung – GD&T
  • ISO 1101-konforme geometrische Bemaßungen und Tolerierungen (Konturanalyse) an Profilen oder Oberflächenkonturen durchführen.
  • Gemessene Konturen mit CAD-Daten (DXF) oder einer benutzerdefinierten Nominalform vergleichen.
  • Erweiterte Konturanalyse von Merkmalen wie gotischen Bögen und V-Nuten.
Spektralanalyse

Identifizieren Sie periodische Merkmale und dominante Frequenzen mithilfe von Leistungsdichtespektrum (PSD) und Autokorrelationstools.

Multiskalen-Oberflächenanalyse

Verwenden Sie Wavelet- und Bandpassfilter oder skalensensitive Fraktalanalyse (SSFA)-Tools, um das Oberflächenverhalten über mehrere räumliche Skalen hinweg zu untersuchen.

Freiformflächen-Analyse (Schalen-Analyse)
  • Freiformflächen (Schalen) analysieren, die als Dreiecksnetze und Punktwolkendaten dargestellt werden.
  • Bereinigen und neu vernetzen.
  • Mit geometrischen oder CAD-Modellen vergleichen.
Oberflächen-Stitching und -Partitionieren

Fügen Sie mehrere Oberflächen-messungen zusammen (Stitchen) (XY oder Z) oder partitionieren Sie Oberflächen und zerlegen Sie in Elemente, beispielsweise in der MEMS-Analyse.

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    Wählen Sie Ihr Produkt aus

    MountainsMap® Premium

    MountainsMap® Expert

    MountainsMap® Imaging Topography

    MountainsMap® Topography

    MountainsMap® Profile

    Geräte-Kompatibilität

    Alle Profil-Messgeräte and flächenhaft arbeitende Messgeräte

    Alle Profil-Messgeräte and flächenhaft arbeitende Messgeräte

    Flächenhaft arbeitende optische Profilometer, die Topografiekarten zusammen mit einem Intensitäts- bzw. Farbbild erzeugen

    • Konfokalmikroskope
    • Fokusvariationsmikroskope
    • Weißlichtinterferometer
    • Flächenhaft arbeitende optische oder taktile Profilometer zur Erstellung von Topografiekarten
    • Flächenhaft arbeitende taktile Profilometer
    • Scannende optische Einpunkt-Profilometer

    2D-Kontaktprofilometer und optische Profilometer

    Wichtigste Funktionen

    Analyse der Profilrauheit und ‑welligkeit

    Grundlegende Analyse von Oberflächendaten

    Stitchen von Bildern und Oberflächen, Beseitigung von Ausreißern und Multifokus-Rekonstruktion

    Unterstützung von Dateiformaten aus optischen Profilometern

    Optionale Module

    Erweiterte Profilanalyse

    Option Option Option

    Profilparameter im Automobilbereich

    Option Option Option

    Erweiterte Topographie

    Option Option

    Partikelanalyse

    Option Option Option

    Faseranalyse von Bildern und Topografie

    Option Option Option

    Konturanalyse

    Option Option Option Option

    Erweiterte Konturanalyse einschließlich CAD-Vergleich

    Option Option Option Option Option

    Dickenanalyse

    Option Option Option Option

    4D-Oberflächenveränderung

    Option Option

    Kritische Abmessungen und Vertiefungen

    Option Option Option

    Linsenanalyse

    Option Option Option Option

    Fourier- und Wavelets-Analyse

    Option Option Option

    Schalen-Erweiterung (Freiformflächen)

    Option Option Option

    Schalentopografie für messtechnische Analysen

    Option Option Option Option

    Schale mit CAD vergleichen

    Option Option Option Option

    Drallanalyse (Twist)

    Option Option Option Option

    Multiskalen-Fraktalanalyse

    Option Option Option Option

    Kolokalisierung für die Korrelationsanalyse

    Option Option Option
    Inbegriffen
    Option
    Als Option erhältlich
    Nicht kompatibel

    Empfohlene optionale Module

    Die folgenden optionalen Module für fortgeschrittene und spezialisierte Anwendungen sind für MountainsMap® verfügbar.

    Shell Extension Module

    Freiformflächen-Management, komplexe Formanalyse, hochwertige 3D-Visualisierung

    Shell Topography Module

    Metrologischer Werkzeugkasten für Schalendaten (Freiformflächen)

    Shell CAD Compare Module

    Gemessene Schalendaten (Ist) einfach und effizient mit CAD-Modellen (Soll) oder erzeugten Netzen vergleichen

    Critical Dimensions & Trenches Module

    Kritische Abmessungen berechnen und Linienkantenrauheit/Linienbreitenrauheit in Halbleiterherstellungsprozessen charakterisieren.

    Scale-sensitive Analysis Module

    Durchführung einer Multiskalenanalyse basierend auf Längen- oder Flächenskalenanalysen (früher in Sfrax-Software)

    Automotive Module

    Bewerten der Funktionsleistung, mit einem vollständigen Satz von Profilparametern, die von der Automobilindustrie entwickelt wurden

    Lead Analysis (Twist) Module

    Drallanalyse (Twist) der 2. Generation für die Automobilindustrie

    Contour Analysis Module

    Grundlegende geometrische Bemaßung und Toleranzüberwachung von Konturprofilen und horizontalen aus Bildern oder Oberflächen extrahierten Konturen.

    Advanced Contour Analysis Module

    Fortschrittliche Tools zur Bemaßung und Toleranzüberwachung, DXF-CAD-Vergleiche, gotische Bögen

    4D Surface Change Module

    Analyse von Oberflächenentwicklung in Bezug auf Zeit, Temperatur, Magnetfeld oder eine andere Dimension

    Particle Analysis Module

    Umfassendes Toolset zum Nachweis und zur Analyse von Partikeln, Poren, Körnern, Inseln usw. auf strukturierten Oberflächen

    Advanced Profile Module

    Erweiterte Profilfilterung, Fourier-Analyse, Fraktalanalyse und statistische Analyse von Profilserien

    Fourier & Wavelets Module

    FFT-basierte Texturanalyse, anspruchsvolle FFT-Filterung, Multiskalenanalyse mit Wavelets

    Fiber Analysis Module

    Fasermorphologie einschließlich Durchmesser und Richtung in SEM-Bildern (SE- und BSE-Modus), Lichtmikroskopiebildern und bei topografischen Daten analysieren.

    Thickness Analysis Module

    Globale oder zonenspezifische interaktive Dickencharakterisierung basierend auf einem Paar von Oberflächen oder Profilen

    Lens Analysis Module

    Analyse oder Simulation von asphärischen Oberflächen und Profilen und Bewertung der Oberflächengüte nach ISO 10110-8 in bildgebenden Systemen, Sensoren und Laseranwendungen

    Colocalization Module

    Oberflächen- und Bilddaten von Messgeräten desselben Typs bzw. unterschiedlicher Typen kolokalisieren und angleichen

    30-Tage kostenlose Testversion

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