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Das bietet MountainsSPIP®

Erweiterte Partikelanalyse
  • Leichtes Erkennen und Quantifizieren von Merkmalen beliebiger Form und Größe.
  • Quantifizierung von über 70 Merkmalen (Höhe, Fläche, Volumen, Umfang usw.) für die gesamte Probe oder einzelne Partikel.
Kraftspektroskopie
  • Betrachten, Verarbeiten und Analysieren von Kraftkurven und Kraftvolumenbildern
  • Korrigieren von Daten, Erstellen interaktiver Parameterkarten und Verwalten großer Kurvensammlungen
Korrelationsanalyse

Kombination von SPM-Bildern mit Daten von anderen Instrumenten (REMs, 3D-Lichtmikroskope, konfokale Mikroskope usw.) zur Durchführung einer Korrelationsanalyse.

Multi-Channel-Bildgebung und -Analyse
  • Handhabung von Multi-Channel-Dateien
  • Visualisieren verschiedener Kanäle in 3D
  • Anwenden der Analyse auf eine einzelne Schicht oder alle Schichten
  • Extrahieren von Mehrschichtenquerschnitten
Hohe Kompatibilität
  • Verarbeitung der Daten von jeder Marke oder jedem Typ von Rastersondenmikroskop, einschließlich Rasterkraftmikroskopie (AFM), RTM, SNOM usw.
  • Öffnen von über 170 Dateiformaten
Datenkorrektur und -normalisierung
  • Analyse-Vorbereitung Ihrer Daten mithilfe von Korrektur-, Normalisierungs- und Entrauschungstools.
  • Entfernen anomaler Scanlinien und isolierter Artefakte.
Laterale Kalibrierung

Laterale Kalibrierung: Automatische Berechnung von Korrekturparametern und ihre anschließende Anwendung auf die Messdaten

Abwicklung der Spitze
  • Korrektur von Bildverzerrungen durch Spitzenverformung.
  • Simulieren oder Rekonstruieren der Spitzengeometrie und Wiederverwendung zur Entfaltung anderer Messdaten
Analyse der Oberflächentextur
  • Charakterisierung der Oberflächentextur nach internationalen Normen.
  • Anwendung fortschrittlicher Filtertechniken nach ISO 16610 und 3D-Parameter nach ISO 25178.

Wählen Sie Ihr Produkt aus

MountainsSPIP® Premium MountainsSPIP® Expert MountainsSPIP® Starter

Geräte-Kompatibilität

Alle Rastersondenmikroskope (Scanning Probe Microscope, SPM) einschließlich Rasterkraftmikroskopie (Atomic Force Microscopy, AFM), RTM, SNOM usw.

3D-Ansicht mit Animation

Fortschrittlicher Dateimanager

Automatisierung (Vorlagendokumente und Funktionen zum Speichern und Laden von Dokumenten)

Einfache Korrekturwerkzeuge (Ausrichten, Linien korrigieren usw.)

Wesentliche 2D- und 3D-Parameter sowie Filter

Dimensionale Messungen (Stufenhöhen, Abstände usw.)

Vollständige Berichtsfunktionen einschließlich PDF- und Word-Export

Erkennung, Analyse und Klassifizierung von Partikeln und Poren

Alle benötigten statistischen Werkzeuge

Abwicklung der Spitze

Kraft-Abstands-Kurven-Analyse

IV Spektroskopie

Kolokalisierung (Korrelationsanalyse)

Stitchen von Bildern

30-Tage kostenlose Testversion

Free trial

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