AFM- und SPM-Analysesoftware von Fachleuten

• Erkennen und quantifizieren Sie Partikel, Poren, Körner und andere Merkmale beliebiger Form und Größe auf beliebigen Oberflächen.
• Von anwendungsorientierten Segmentierungsverfahren profitieren
• Partikel auf der Grundlage von Merkmalen in Klassen gruppieren
• Erstellen Sie Statistiken und Grafiken (Streudiagramm, Box-Plot, Kontrolldiagramm, Histogramm usw.).

Weitere Informationen finden Sie in diesem Artikel.

• Visualisieren von Kraftkurven und automatische Vorverarbeitung mit Entrausch-, Normalisierungs- und Kalibrierungswerkzeugen
• Automatisches Erkennen von Adhäsionsereignissen und Durchführen von Parameterberechnungen
• Berechnen von Elastizitätsmodul, Energien, Steifigkeit usw.
• Erzeugen von Wormlike-Chain-Modellen (WLC)
• Analysieren von Kraftkurvenserien und Erzeugen von Statistikdaten (Kontrolldiagramme, Streudiagramme, Histogramme) für beliebige Parameter
• Visualisieren von Kraft-Volumen-Daten und Darstellen interaktiver Parameterkarten
• Filtern von Kraft-Volumen und interaktives Extrahieren von Schnittscheiben oder einzelnen Kraftkurven

• Kombinieren von SPM-Bildern mit Daten anderer Instrumente (SEM, 3D-Lichtmikroskope, konfokale Mikroskope usw.) für eine Korrelationsanalyse.
• Überlagern von hochauflösenden Topografiebilder (aus Rasterkraftmikroskopie (AFM)) auf RGB-Bildern, die mit einem Mikroskop mit größerem Sichtfeld (SEM, Fluoreszenz, optische Aufnahmen) erstellt wurden.
• Kolokalisieren mit Daten zur chemischen Zusammensetzung (Spektroskopie)

Links: Kolokalisierung einer SEM-Aufnahme und einer AFM-Topografie

Rastersondenmikroskope (Scanning Probe Microscopes, SPM) stellen üblicherweise mehrere Interaktionen gleichzeitig dar. Mithilfe der unterschiedlichen Modi erzeugen SPM mehrere Datensätze für dieselbe Position auf der Probe (z. B. Topografie, Leitfähigkeit oder Steifigkeit).

• Bearbeiten Sie Multi-Channel-Bilder so einfach und effizient wie einfache Topografiebilder
• Visualisieren Sie mehrere Kanäle auf Knopfdruck in 3D
• Wenden Sie eine Analyse auf einen einzelne Kanal oder alle Kanäle an
• Extrahieren Sie Mehrschichtenquerschnitte
• Untersuchen Sie Korrelationen zwischen verschiedenen Kanälen

Weitere Informationen: wwww.digitalsurf.com/news/multi-channel-data-how-to-study-correlations/

• Analyseablauf und Effizienz dank No-Code-Automatisierungswerkzeugen optimieren
• Große Datenmengen durch Speichern und automatisches Anwenden von Analyseschritten effizient analysieren
• Fortschritt speichern, um die Arbeit später nahtlos fortzusetzen
• Analyse mit mächtigen integrierten Statistikwerkzeugen verbessern

• Mehrere Bilder automatisch zusammenfügen (stitchen) einschließlich solcher mit großen Überlappungen, und das mit Geschwindigkeit und Konsistenz.
• Intelligente Visualisierung: Einfaches Anzeigen und Positionieren der zu stitchenden Bilder.
• Raster-Assistent: Messungen anhand von Studienobjekt-Eigenschaft vor-positionieren (Name, Nummer, Datum usw.).
• Selektives Stitching: Filtern der einzubeziehenden Studienobjekte – ideal für korrigierte Daten und automatisierte Arbeitsabläufe.

Korrigieren Sie anomale Scanlinien und Messartefakte

• Automatische Korrektur Linie für Linie gefolgt von einer Ausrichtung, wobei Strukturen über (Erhebungen) und unter (Mulden) der Oberfläche ignoriert werden
• Individuelle Linienkorrektur durch Interpolation
• Ausbessern zum Entfernen isolierter Artefakte
• Schwellenwerte usw.

Normalisierung

• Oberflächen können vor der Analyse verebnet, an der horizontalen oder vertikalen Achse gespiegelt und in 1-Grad-Schritten gedreht werden.
• Bereiche von Oberflächen können zur unabhängigen Untersuchung extrahiert werden.

Rauschunterdrückende Filter

• Räumliche Filter mit konfigurierbaren Matrizen
• FFT-Ploteditor

• In Bildern mit regelmäßigen Mustern: Bestimmen von Gittern durch Erkennung einer Elementarzelle und Quantifizieren ihrer Abmessungen
• Quantifizieren von Skalierungs- und Linearitätsfehlern
• Verwenden dieser Werte als Korrekturfaktoren, um die Linearität und Skalierung anderer Oberflächen zu korrigieren

Korrigieren Sie den Effekt der Spitze auf die gemessene Oberfläche.

• Geometrie der Spitze simulieren
• Geometrie der Spitze mithilfe der „blinden Rekonstruktionsmethode“ schätzen
• Geometrie der Spitze speichern und zur Abwicklung anderer Oberflächen verwenden

• Separieren Sie Rauheit und Welligkeit von Oberflächen mithilfe der erweiterten Filtertechniken nach ISO 16610, darunter robuste Gaußsche und Spline-Filter.
• Greifen Sie auf ISO-Parameter zu: Höhen- (Sa, Sq, Ssk, Sku, Sz usw.) und funktionelle Parameter (Smr, Smc, Sxp) nach ISO 25178, Primär- und Rauheitsparameter (Ra, Rq, Rsk, Rmr, Rdc, Rdq, RPc usw.) nach ISO 4287 usw.

• Multi-Channel-SPM-Bilder verarbeiten und analysieren einschließlich Topographie-Kanälen
• Daten mithilfe von Filtern bereinigen, vor der Analyse
• Korrelieren Sie mehrere Multi-Channel-Datensätze, unter Verwendung mehrerer Positionierungsmethoden, einschließlich einer automatischen Methode
• Vollständige Spektral- und Hyperspektralanalyse durchführen
• Einfache Verwaltung großer Datenmengen mithilfe von Automatisierungstools