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Erweiterte Topographie (Modul)

Weiterführende Untersuchungen, Parameter und Filter zur („flächenhaften“) 3D-Oberflächentexturanalyse

Erweitertes Profil (Modul)

Erweiterte Profilfilterung, Fraktal- und Fourier-Analyse, statistische Analyse von Profilserien

Partikelanalyse (Modul)

Umfassendes Toolset zum Nachweis und zur Analyse von Partikeln, Poren, Körnern, Inseln usw. auf strukturierten Oberflächen

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4D-Serie (Modul)

Analyse von Oberflächenentwicklung in Bezug auf Zeit, Temperatur, Magnetfeld oder eine andere Dimension

Konturanalyse (Modul)

Grundlegende geometrische Bemaßung und Toleranzüberwachung von Konturprofilen und horizontalen aus Bildern oder Oberflächen extrahierten Konturen.

Erweiterte Konturanalyse (Modul)

Fortschrittliche Tools zur Bemaßung und Toleranzüberwachung, DXF-CAD-Vergleiche, gotische Bögen

Drallanalyse (Twist) (Modul)

Drallanalyse (Twist) der 2. Generation für die Automobilindustrie

Kraft-Abstands-Kurven-Analyse (Modul)

Analyse von Kraftspektroskopie-Daten: Kraftkurven (Kraft-Distanz-Kurven), Kraft-Abstands-Kurven-Serien und Kraft-Volumen-Daten (Datenwürfel). Messen von Adhäsionsereignissen, Nanoindentation und Anpassen von WLC-Modellen.

REM-Topographie (Modul)

3D-Rekonstruktion aus 2 oder 4 REM-Bildern, sofortige 3D-Verbesserung von REM-Einzelbildern und halbautomatische Bild-Einfärbung

Kolokalisierung (Modul)

Kolokalisieren von Daten aus verschiedenen Instrumententypen und Durchführen von Korrelationsuntersuchungen

Profilometer-Erweiterung (Modul)

Verwaltung und Analyse von Profilometer-Daten, einschließlich Abstandsmessungen und Stufenmessungen, grundlegende ISO-Standardfilter und Filtertechniken

Automobilindustrie (Modul)

Bewerten der Funktionsleistung, mit einem vollständigen Satz von Profilparametern, die von der Automobilindustrie entwickelt wurden

Schalen-Erweiterung (Modul)

Freiformflächen-Management, komplexe Formanalyse, hochwertige 3D-Visualisierung

Multiskalen-Fraktal-Analyse (Modul)

Durchführung einer Multiskalenanalyse basierend auf Längen- oder Flächenskalenanalysen (früher in Sfrax-Software)

SPM-Erweiterung (Modul)

Lesen von AFM-/SPM-Dateiformaten, Arbeiten mit Multi-Channel-SPM-Bildern und Korrektur von Datenerfassungsfehlern

Fourier & Wavelets (Modul)

FFT-basierte Texturanalyse, anspruchsvolle FFT-Filterung, Multiskalenanalyse mit Wavelets

Spektroskopie (Modul)

Visualisierung und Analyse von Spektren und hyperspektralen Würfeln unter Verwendung von Raman- und IR-Spektrometern, CITS usw.