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Umfassendes Toolset zum Nachweis und zur Analyse von Partikeln, Poren, Körnern, Inseln usw. auf strukturierten Oberflächen
Fasermorphologie einschließlich Durchmesser und Richtung in SEM-Bildern (SE- und BSE-Modus), Lichtmikroskopiebildern und bei topografischen Daten analysieren.
Kritische Abmessungen berechnen und Linienkantenrauheit/ Linienbreitenrauheit in Halbleiterherstellungsprozessen charakterisieren.
Grundlegende geometrische Bemaßung und Toleranzüberwachung von Konturprofilen und horizontalen aus Bildern oder Oberflächen extrahierten Konturen.
Fortschrittliche Tools zur Bemaßung und Toleranzüberwachung, DXF-CAD-Vergleiche, gotische Bögen
Weiterführende Untersuchungen, Parameter und Filter zur („flächenhaften“) 3D-Oberflächentexturanalyse
Erweiterte Profilfilterung, Fourier-Analyse, Fraktalanalyse und statistische Analyse von Profilserien
Bewerten der Funktionsleistung, mit einem vollständigen Satz von Profilparametern, die von der Automobilindustrie entwickelt wurden
Analyse von Oberflächenentwicklung in Bezug auf Zeit, Temperatur, Magnetfeld oder eine andere Dimension
Globale oder zonenspezifische interaktive Dickencharakterisierung basierend auf einem Paar von Oberflächen oder Profilen
Analyse oder Simulation von asphärischen Oberflächen und Profilen und Bewertung der Oberflächengüte nach ISO 10110-8 in bildgebenden Systemen, Sensoren und Laseranwendungen
Durchführung einer Multiskalenanalyse basierend auf Längen- oder Flächenskalenanalysen (früher in Sfrax-Software)
FT-basierte Texturanalyse, anspruchsvolle FT-Filterung, Multiskalenanalyse mit Wavelets
Freiformflächen-Management, komplexe Formanalyse, hochwertige 3D-Visualisierung
Metrologischer Werkzeugkasten für Schalendaten (Freiformflächen)
Gemessene Schalendaten (Ist) einfach und effizient mit CAD-Modellen (Soll) oder erzeugten Netzen vergleichen
Analysieren von Kraftspektroskopiedaten: Kraftkurven (Kraft-Abstands-Kurven) und Kraftvolumen. Messen von Adhäsionsereignissen, Nanoindentation und Anpassen von WLC-Modellen.
3D-Visualisierung und Analyse von IV-Spektroskopiebildern und einzelnen IV-Kurvenanalysen (einschließlich CITS-Daten)
Spektralkarten verarbeiten, Spektralbilddaten korrigieren und verbessern sowie Korrelationsanalysen durchführen
Spektroskopiedaten visualisieren, analysieren und korrelieren: IR, Raman, TERS, EDS/EDX, XRF und mehr
Vollständige Visualisierung und Analyse von Multi-Channel-Würfeln mit Zusammensetzungsdaten
Drallanalyse (Twist) der 2. Generation für die Automobilindustrie
Oberflächen- und Bilddaten von Messgeräten desselben Typs bzw. unterschiedlicher Typen kolokalisieren und angleichen