SEM-Bildanalyse-software, auf die Sie sich verlassen können

Einfaches Einfärben von SEM-Bildern:

• Wandeln Sie Schwarz-Weiß mühelos mit nur wenigen Klicks in Farbe um
• Objekte werden in der Software automatisch erkannt und eingefärbt
• Sie müssen weder Schichten erstellen noch verschiedene Transparenzstufen ausprobieren

Weitere Informationen: www.digitalsurf.com/news/add-color-to-sem-images-in-only-a-few-steps/

Korrektur und Verbesserung von SEM-Bildern:

• Glätten
• Artefakte entfernen
• Beleuchtung korrigieren
• Helligkeit und Kontrast anpassen

• Wechseln von normalen 2D-Bildern zu topografischen Modellen
• Rekonstruieren eines 3D-Modells aus zwei aufeinanderfolgenden geneigten Scans der Probe in nur wenigen Sekunden
• Ermitteln exakter Höhenwerte aus hochwertigen Stereopaaren
• Bewerten von Oberflächenbeschaffenheit, Oberflächenrauheit usw.

Weitere Informationen: www.digitalsurf.com/blog/7-tips-for-producing-sem-stereo-pairs/

• SEM-Bilder in Sekundenschnelle in 3D umwandeln
• 3D-Modell aus 3 oder 4 Bildern erzeugen, die mit einem Multi-Segment-Detektor aufgenommen wurden, um ansonsten unsichtbare Details zu visualisieren
• Verbesserte Darstellung durch Überlagern des kombinierten SEM-Bildes auf die 3D-Topografie mit individueller Transparenzeinstellung erzielen

Weitere Informationen: wwww.digitalsurf.com/blog/using-a-four-quadrant-detector-in-3d-reconstruction/

• Parameter Linienkantenrauheit (LER, Line Edge Roughness) und Linienbreitenrauheit (LWR, Line Width Roughness) für Kanten von in SEM-Bildern erkannten Bändern ermitteln
• Bänder mithilfe von Schwellenwerten, Canny-Verfahren (zur Kompensation ungleicher Ladungseffekte an Rändern) oder zwischen Bordüren (mit geringer Graustufenvariation) erkennen
• Parameter relativ zur Analyse der kritischen Abmessungen berechnen: Bandbreite, Pitch
• Große Datenmengen mit den Automatisierungswerkzeugen von Mountains® verarbeiten (dieser Artikel enthält weitere Informationen)

• Spektakuläre 3D-Darstellungen erstellen, die EDS(EDX)-Karten oder andere Spektral-/Zusammensetzungsdaten mit SEM-Bildern (oder, sofern verfügbar, Topografie) zusammenfügen
• Oberflächeneigenschaften oder ihre Zusammensetzung hervorheben
• Vielfältige Rendering-Optionen verwenden (Paletten, Farbmischung, Transparenz usw.)

• Laden, Anzeigen und Untersuchen von Bildserien aus der Volumenelektronenmikroskopie (FIB-SEM, serielle Block-Face-SEM, Array-Tomografie usw.) als 3D-Voxel-Würfel
• Verknüpfen von Tomografie und chemischer Analyse
• Materialschnitte erstellen: Segmentierung und Animationseinstellungen festlegen
• 3D-Partikel- und ‑Kornstatistiken aus 3D-Voxel-Würfeln erzeugen

• Merkmale in praktisch allen SEM-Bildern schnell erkennen und quantifizieren
• Von der KI-gestützten Zerlegung sowie der Bildzerlegung und Objekterkennung für SEM-SE und SEM-BSE profitieren
• Über 70 verschiedenen Eigenschaften berechnen (Flächeninhalt, Umfang, Durchmesser usw.) und in individuelle Klassen einteilen
• Statistiken, Kontrolldiagramme, Streudiagramme, Histogramme und mehr erstellen

• Einzelne Fasern unabhängig vom Zustand quantifizieren (separat, berührend oder überlappend).
• SEM-Bilder (SE- und BSE-Modus) einer Vielzahl von Proben analysieren
• Fasern und Zwischenräume automatisch anhand dedizierter Erkennungsmethoden erkennen
  • Fasermorphologie und ‑darstellung analysieren:
    • Histogramm der Faserdurchmesser
    • Tabelle mit den Parametern der einzelnen Fasern und Zwischenräume, darunter:
    • Faserdurchmesser (Durchschnitt, kleinster und größter Wert, Standardabweichung)
    • mittlere Faserrichtung (Faserausrichtung)
    • Zwischenraumdurchmesser
  • Weiterlesen

• Kombinieren von SEM-Bildern verschiedener Detektoren (SE + BSE) oder aus Daten anderer Messgeräte (AFM/SPM, 3D-Lichtmikroskope) zur Korrelationsanalyse
• Kolokalisieren von SEM-Bildern mit Daten der Spektralanalyse (EDX, Kathodolumineszenz usw.) und erstellen eindrucksvoller chemische Karten

Links: Kolokalisierung einer SEM-Aufnahme und einer AFM-Topografie.