Un logiciel d'analyse d'images SEM d'une fiabilité irréprochable

Colorisez facilement des images SEM :

• Passez du noir et blanc à la couleur en seulement quelques clics
• Les objets sont automatiquement détectés et colorisés par le logiciel
• Inutile de créer des couches ou de jouer avec la transparence

En savoir plus : wwww.digitalsurf.com/news/add-color-to-sem-images-in-only-a-few-steps/

Corrigez et améliorez des images SEM :

• lisser
• supprimer les artéfacts
• figer l’éclairage
• ajuster la luminosité et le contraste

Passez des images 2D standard aux modèles « topographiques »

• Reconstruisez un modèle 3D à partir de deux balayages inclinés successifs de votre échantillon en seulement quelques secondes
• Disposez de valeurs de hauteur précises à partir de paires stéréo de bonne qualité
• Évaluez les états de surface, la rugosité de surface, etc.

En savoir plus : wwww.digitalsurf.com/blog/7-tips-for-producing-sem-stereo-pairs/

• Passez vos images SEM en 3D en quelques secondes
• Générez un modèle 3D à partir de 3 ou 4 images obtenues à l’aide d’un détecteur de segments multiples et visualisez des détails autrement invisibles
• Obtenez un rendu amélioré en superposant l’image SEM combinée sur la topographie 3D à un niveau de transparence de votre choix

En savoir plus : wwww.digitalsurf.com/blog/using-a-four-quadrant-detector-in-3d-reconstruction/

• Calculez les paramètres de rugosité de bord de ligne (LER) et de rugosité de largeur de ligne (LWR) sur les bords des bandes détectées dans des images SEM
• Détectez des bandes par seuillage, filtre de Canny (pour compenser un effet de chargement inégal sur les bords) ou des bandes entre les liserés (quand le niveau de gris varie légèrement)
• Calculez des paramètres relatifs à l’analyse des Dimensions Critiques : largeur de bande, écart
• Traitez de grandes quantités de données grâce aux outils d’automatisation de Mountains® (plus de détails dans cet article)

• Créez des rendus 3D spectaculaires associant cartes EDS/EDX ou d’autres données spectrales/compositionnelles avec des images SEM (ou une topographie selon la disponibilité)
• Mettez en avant les propriétés et la composition de la surface
• Profitez d’un large éventail d’options de rendu (palettes, mélange de couleurs, transparence, etc.)

• Chargez, affichez et analysez des séries d’images de microscopie électronique volumétrique (SEM-FIB, serial block-face SEM, tomographie de réseau, etc.) sous forme de cubes de voxels 3D
• Tomographie et analyse chimique associées
• Découpez en tranches l’intérieur de vos matériaux : choisissez les réglages de segmentation et d’animation
• Produisez des statistiques sur les grains et particules 3D à partir de voxels 3D

• Identifiez et quantifiez rapidement les caractéristiques de quasiment n’importe quelle image SEM
• Exploitez la segmentation basée sur l’IA d’images SEM-SE et SEM-BSE et la détection d’objets
• Calculez plus de 70 caractéristiques différentes (aire, périmètre, diamètre, etc.) et classez-les selon des critères propres
• Générez des statistiques et créez des cartes de contrôle, diagrammes de dispersion, histogrammes, etc.

• Quantifiez des fibres individuelles qu’elles soient séparées, se touchent ou se chevauchent.
• Analysez des images SEM (modes SE et BSE) d’une grande variété d’échantillons
• • Réalisez une analyse de morphologie de fibres et affichez :
    – Un histogramme des diamètres des fibres
    – Un tableau des paramètres des fibres individuelles et des interstices, avec :
    * Diamètre des fibres (moyen, min., max., écart-type)
    * Direction moyenne des fibres (orientation des fibres)
    * Diamètre des intersticesDétectez automatiquement des fibres et interstices à l’aide de méthodes de détection dédiées

En savoir plus

• Combinez des images SEM de différents détecteurs (SE + BSE) ou avec des données d’autres instruments de mesure (AFM/SPM, microscopes optiques 3D) pour mener une étude corrélative
• Colocalisez vos images SEM avec des données d’analyse spectrale (EDX, cathodoluminescence…) et créez des cartes chimiques impressionnantes

À gauche : colocalisation d’une image SEM avec une tomographie AFM.