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Disponible avec MountainsSEM®

Colorisation et amélioration d'images MEB
  • Outil « Cliquer et colorer » pour coloriser facilement et rapidement les images MEB
  • Appliquez des outils de correction et d’amélioration d’images
Reconstruction 3D à partir de paires stéréo
  • Reconstruisez une topographie de surface 3D à partir de deux balayages inclinés successifs de votre échantillon en quelques secondes pour obtenir des valeurs de hauteur précises.
  • Disposez de valeurs de hauteur précises et évaluer la rugosité de surface
Reconstruction 3D à partir de 4 images

Reconstruisez une topographie de surface 3D à partir de 4 images obtenues à l’aide d’un détecteur à quatre quadrants.

Rendu 3D à partir d'images simples
  • Générez des rendus 3D préliminaires à partir de simples images MEB
  • Améliorez l’interprétation visuelle de l’image
Créez des cartes chimiques 3D avec des données EDS

Créez des rendus spectaculaires associant cartes EDS/EDX ou d’autres données spectrales/compositionnelles avec une topographie reconstruite à partir d’images MEB

Tomographie MEB-FIB
  • Chargez, affichez et analysez une série d’images de microscopie électronique à balayage par faisceau ionique focalisé (FIB)
  • Associez tomographie et analyse chimique
Analyse de particules 2D

Appliquez des outils d’analyse de particules puissants à vos données MEB, identifiez et quantifiez automatiquement les caractéristiques dans l’image à l’aide d’une reconnaissance d’objet spécifiques à la MEB.

Analyse de fibres
  • Quantifiez des interstices et des fibres individuelles, même en cas de chevauchement
  • Calculez le diamètre et l’orientation des fibres
  • Utilisez des algorithmes de détection de fibres dédiés SEM
Analyse corrélative
  • Combinez des images MEB de différents détecteurs ou avec des données d’autres instruments de mesure, AFM ou EDS (EDX) par exemple
  • Colocalisez vos images MEB avec des données d’analyse spectrale

Sélectionnez votre produit

MountainsSEM® Premium

MountainsSEM® Expert

MountainsSEM® Color

Compatibilité des instruments

Tout microscope électronique à balayage (SEM)

Fonctionnalités du produit

Colorisation rapide d’images MEB

Analyse de base et outils de mesure

Outils de correction et d’amélioration des images

Reconstruction 3D ultra rapide à partir de 2 ou 4 images MEB

Amélioration 3D instantanée d’images MEB

Superposition de cartes EDS/EDX sur une topographie de surface

Modules optionnels

Microscopie corrélative

Analyse de particules 2D et caractérisation

Analyse de fibres

Visualisation et analyse des cubes de tomographie FIB-SEM

Analyse de contour

Support pour Coques (surface de forme libre)

Analyse de profil avancée

Analyse de topographie avancée

Analyse de Fourier et Ondelettes

Spectroscopie

Analyse d’épaisseur

Changement de surface 4D

Inclus
Disponible en option
Non compatible

Modules optionnels recommandés

La gamme suivante des modules optionnels pour les applications avancées et spécialisées est disponible pour MountainsSEM®.

Cubes chimiques (Module)

Visualisation et analyse complètes de cubes multicanaux de données compositionnelles

Analyse de fibres (Module)

Analyser la morphologie de fibres, y compris le diamètre et la direction dans des images SEM (modes SE et BSE), dans des images de microscopie optique et dans des données topographiques.

Extension Coques (Module)

Gestion de surfaces de forme libre, analyse de forme complexe, visualisations 3D de haute qualité

Spectroscopie (Module)

Visualiser, traiter, analyser et corréler les données de spectroscopie : IR, Raman/TERS, EDS/EDX/XRF et plus

Analyse de contour (Module)

Dimensionnement géométrique de base et tolérancement des profils de contour et profils horizontaux (extraits d'images, de surfaces etc.)

Analyse de particules (Module)

Un ensemble d'outils complet pour détecter et analyser les particules, pores, îlots, etc. des surfaces structurées

Topographie avancée (Module)

Études avancées, paramètres et filtres pour l'analyse de texture des surfaces 3D (« surfaciques »)

Analyse d’épaisseur (Module)

Caractérisation interactive de l'épaisseur globale ou spécifique à une zone basée sur une paire de surfaces ou de profils

Profil avancé (Module)

Filtrage de profil avancé, analyse de Fourier, analyse fractale, analyse statistique d'une série de profils

Fourier et Ondelettes (Module)

Analyse de texture basée sur la Transformation de Fourier rapide (FFT), filtrage FFT avancé, analyse multi-échelle par ondelettes

Changement de surface 4D (Module)

Analyser l'évolution d'une surface en fonction du temps, de la température, du champ magnétique ou de toute autre dimension

30 jours d'essai gratuit

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