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Disponible avec MountainsMap®

Paramètres ISO et de rugosité

Analysez les paramètres de rugosité et d’état de surface selon les normes ISO 25178, ISO 4287, ISO 13565, ISO 21920, etc. et autres normes nationales

Correction des données

Préparez vos données mesurées pour l’analyse en supprimant les points aberrants, les défauts locaux et le bruit.

Géométrie de la surface

Analysez la géométrie de la surface : calculer des distances, aires, hauteurs de marche, volumes et bien plus encore.

Stitching (assemblage) de surfaces

Augmentez la plage du profilomètre. Utilisez la fonction d’assemblage (Stitching) pour étendre la plage de tous les axes (Z compris) et dépassez les limites de l’instrument.

Analyse de subsurface

Extrayez et analysez des régions d’intérêt, puis étudiez-les de la même manière que des surfaces mesurées entières.

Analyse de coque (surface de forme libre)
  • Chargez, visualisez et analysez des surfaces de forme libre (coques)
  • Réalisez une analyse d’états de surface sur la coque entière ou extraire une aire à analyser séparément
  • Dressez une comparaison avec des modèles de CAD
Analyse de contour avancée
  • Effectuez une analyse complète de dimensionnement et de tolérancement géométrique (GD&T)
  • Ajustez des éléments, calculez des écarts et des dimensions
  • Comparez avec des modèles de CAO
Analyse de particules et plus...

Réalisez une analyse avancée d’états de surface :

  • Analyse de particules
  • Fourier et Ondelettes
  • Analyse 4D (analyse de l’évolution de la surface dans le temps, etc.)
  • Analyse d’épaisseur
  • Analyse de fibres
  • Et plus encore…
Analyse corrélative

Réalisez une analyse corrélative et colocaliser les données d’un autre profilomètre ou microscope, avec le même logiciel !

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    Sélectionnez votre produit

    MountainsMap® Premium

    MountainsMap® Expert

    MountainsMap® Imaging Topography

    MountainsMap® Topography

    MountainsMap® Profile

    Compatibilité des instruments

    Tous les instruments de mesure de profils et de surfaces

    Tous les instruments de mesure de profils et de surfaces

    Profilomètres surfaciques optiques produisant des cartes topographiques avec une image d’intensité et/ou de couleur

    • Microscopes confocaux
    • Microscopes à variation focale
    • Interféromètres en lumière blanche

    Recommandé pour profilomètres surfaciques à capteurs optiques ou stylets produisant des cartes topographiques

    • Profilomètres surfaciques à contact
    • Profilomètres optiques à balayage latéral

    Profilomètres 2D à contact ou optiques

    Fonctionnalités clés

    Rugosité du profil et analyse d’ondulation

    Analyse de base des données de surface

    Stitching (assemblage) d’images et de surfaces, suppression des aberrations et reconstruction multifocale

    Support pour les formats de fichiers des profilomètres optiques

    Modules optionnels

    Analyse de profil avancée

    Option Option Option

    Paramètres de profils automobiles

    Option Option Option

    Analyse de topographie avancée

    Option Option

    Analyse de particules

    Option Option Option

    Analyse de fibres d’images et topographie

    Option Option Option

    Analyse de contour

    Option Option Option Option

    Analyse de Contour avancée avec comparaison CAD

    Option Option Option Option Option

    Analyse d’épaisseur

    Option Option Option

    Changement de surface 4D

    Option Option

    Analyse de lentilles

    Option Option Option Option

    Analyse de Fourier et Ondelettes

    Option Option Option

    Extension Coques (surface de forme libre)

    Option Option Option

    Topographie de Coque pour l’analyse métrologique

    Option Option Option Option

    Coque avec comparaison CAD

    Option Option Option Option

    Analyse de structures hélicoïdales (Twist)

    Option Option Option Option

    Analyse fractale multi-échelle

    Option Option Option Option

    Colocalisation pour l’analyse corrélative

    Option Option Option
    Inclus
    Option
    Disponible en option
    Non compatible

    Modules optionnels recommandés

    La gamme suivante de modules optionnels pour des applications avancées et spécialisées est disponible pour la gamme MountainsMap®.

    Extension Coques (Module)

    Gestion de surfaces de forme libre, analyse de forme complexe, visualisations 3D de haute qualité

    Topographie des Coques (Module)

    Une boîte à outils métrologiques pour les données de type coques (surfaces de forme libre)

    Comparaison Coque-CAD (Module)

    Comparer efficacement et facilement des données de Coque mesurées (réel) aux modèles CAD (nominal) ou aux mailles générées

    Dimensions critiques & Tranchée (Module)

    Calculer les dimensions critiques et caractériser la rugosité de bord de ligne / rugosité de largeur de ligne dans des procédés de fabrication de semiconducteurs.

    Analyse multi-échelle (Module)

    Méthodes multi-échelles ("scale-sensitive") pour l'analyse des propriétés géométriques des surfaces et des dérivées (complexités) d’échelle, notamment les méthodes length-scale et area-scale (anciennement logiciel Sfrax)

    Industrie automobile (Module)

    Évaluer les performances fonctionnelles avec un ensemble complet de paramètres de profil, développé par l'industrie automobile

    Analyse de structures hélicoïdales (Twist) (Module)

    Analyse de 2ème génération de structures hélicoïdales (twist) pour l'industrie automobile

    Analyse de contour (Module)

    Dimensionnement géométrique de base et tolérancement des profils de contour et profils horizontaux (extraits d'images, de surfaces etc.)

    Analyse de contour avancée (Module)

    Dimensionnement et tolérancement avancés, comparaison CAO en DXF, arche gothique

    Changement de surface 4D (Module)

    Analyser l'évolution d'une surface en fonction du temps, de la température, du champ magnétique ou de toute autre dimension

    Analyse de particules (Module)

    Un ensemble d'outils complet pour détecter et analyser les particules, pores, îlots, etc. des surfaces structurées

    Profil avancé (Module)

    Filtrage de profil avancé, analyse de Fourier, analyse fractale, analyse statistique d'une série de profils

    Fourier et Ondelettes (Module)

    Analyse de texture basée sur la Transformation de Fourier rapide (FFT), filtrage FFT avancé, analyse multi-échelle par ondelettes

    Analyse d’épaisseur (Module)

    Caractérisation interactive de l'épaisseur globale ou spécifique à une zone basée sur une paire de surfaces ou de profils

    Analyse de fibres (Module)

    Analyser la morphologie de fibres, y compris le diamètre et la direction dans des images SEM (modes SE et BSE), dans des images de microscopie optique et dans des données topographiques.

    Analyse de Lentilles (Module)

    Analyser ou simuler des profils et surfaces asphériques pour les systèmes d'imagerie, applications laser et capteurs

    Colocalisation (Module)

    Colocaliser les données de différents types d'instrument et mener des études corrélatives

    30 jours d'essai gratuit

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