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Disponible avec MountainsSPIP®

Analyse de particules avancée
  • Détectez et quantifiez facilement les caractéristiques de n’importe quelle forme et taille.
  • Quantifiez plus de 70 caractéristiques (hauteur, aire, volume, périmètre, etc.) pour l’échantillon entier ou des particules données.
  • Créez des classifications et générez des statistiques pour une ou plusieurs populations
Spectroscopie de force
  • Visualisez, traitez et analysez des courbes de force et des images force-volume
  • Corrigez des données, créez des cartes de paramètres interactives et gérez de larges ensembles de courbes
  • Calculez l’adhésion, le module de Young, les énergies, la rigidité, le modèle WLC, etc.
Analyse corrélative
  • Combinez des images SPM avec des données d’autres instruments (MEB, microscopes optiques 3D, microscopes confocaux, etc.) pour mener une étude corrélative.
  • Réalisez une colocalisation à l’aide de données compositionnelles chimiques
Analyse et imagerie multicanaux
  • Manipuler des fichiers multicanaux
  • Visualiser différents canaux en 3D
  • Appliquer une analyse à une seule couche ou à toutes les couches
  • Extraire des coupes transversales multicouches
Automatisez l'analyse d'images de microscopes à sonde locale (SPM)
  • Réalisez une analyse d’images SPM avec efficacité et plus rapidement
  • Analysez automatiquement de grands ensembles de données
  • Sauvegardez votre travail et reprenez-le là où vous l’avez laissé
  • Profitez de puissants outils statistiques
Correction et normalisation des données
  • Préparez vos données pour l’analyse avec des outils de correction, normalisation et débruitage.
  • Supprimez les lignes de balayage anormales et les artéfacts isolés.
  • Utilisez le filtrage et le seuillage basés sur la FFT.
Réseau & Étalonnage latéral
  • Déterminez un réseau automatiquement en détectant la maille.
  • Calculez des paramètres de correction, puis appliquez-les aux données mesurées.
  • Ajustez la détection de maille basée sur l’analyse FFT
Déconvolution de pointe
  • Corrigez la distorsion d’image due à la convolution du stylet.
  • Simulez ou reconstruisez la géométrie de pointe et réutilisez-la pour la déconvolution d’autres données mesurées.
Analyse d'états de surface
  • Caractérisez un état de surface selon les normes internationales.
  • Appliquez des techniques de filtrage ISO 16610 avancées et des paramètres 3D ISO 25178.

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    Sélectionnez votre produit

    MountainsSPIP® Premium

    MountainsSPIP® Expert

    MountainsSPIP® Starter

    Compatibilité des instruments

    Tout microscope à sonde locale (SPM), y compris à force atomique (AFM), STM, SNOM, etc.

    Fonctionnalités du produit

    Vues en 3D avec animation

    Explorateur de fichiers avancé

    Automatisation (documents-modèles et fonctions d’enregistrement/chargement de documents)

    Outils de correction de base (niveau, corriger les lignes, etc.)

    Filtres et paramètres 2D/3D essentiels

    Mesures dimensionnelles (hauteurs de marche, distances, etc.)

    Fonctionnalités complètes pour créer de rapports, y compris des exports PDF et Word

    Jeu complet d’outils statistiques

    Déconvolution de pointe

    Stitching (assemblage) d’images

    Modules optionnels

    Détection, analyse et classification des particules et pores

    Option

    Colocalisation (analyse corrélative)

    Option Option

    Spectroscopie IV

    Option

    Analyse de courbes de force

    Option Option

    Analyse de contour

    Option

    Analyse de contour avancée

    Option

    Analyse de fibres

    Option Option

    Analyse fractale multi-échelle

    Option

    Spectroscopie

    Option Option

    Changement de surface 4D

    Option Option
    Inclus
    Option
    Disponible en option
    Non compatible

    Modules optionnels recommandés

    La gamme suivante de modules optionnels pour des applications avancées et spécialisées est disponible pour la gamme MountainsSPIP®.

    Analyse de courbes de force (Module)

    Analyser les données de spectroscopie de force : courbes de force (courbes de données force-distance) et données force-volume. Mesurer les événements d'adhésion, la nanoindentation et ajuster les modèles WLC.

    Analyse de particules (Module)

    Un ensemble d'outils complet pour détecter et analyser les particules, pores, îlots, etc. des surfaces structurées

    Spectroscopie IV (Module)

    Visualisation 3D et analyse des images spectroscopiques IV et analyse individuelle de la courbe IV (y compris les données CITS)

    Spectroscopie (Module)

    Visualiser, traiter, analyser et corréler les données de spectroscopie : IR, Raman/TERS, EDS/EDX/XRF et plus

    Dimensions critiques & Tranchée (Module)

    Calculer les dimensions critiques et caractériser la rugosité de bord de ligne / rugosité de largeur de ligne dans des procédés de fabrication de semiconducteurs.

    Analyse de contour (Module)

    Dimensionnement géométrique de base et tolérancement des profils de contour et profils horizontaux (extraits d'images, de surfaces etc.)

    Analyse de contour avancée (Module)

    Dimensionnement et tolérancement avancés, comparaison CAO en DXF, arche gothique

    Changement de surface 4D (Module)

    Analyser l'évolution d'une surface en fonction du temps, de la température, du champ magnétique ou de toute autre dimension

    Microscopie corrélative (Module)

    Traiter les cartes spectrales, corriger et améliorer les données d'images spectrales et réaliser une analyse corrélative

    Analyse de fibres (Module)

    Analyser la morphologie de fibres, y compris le diamètre et la direction dans des images SEM (modes SE et BSE), dans des images de microscopie optique et dans des données topographiques.

    Analyse multi-échelle (Module)

    Méthodes multi-échelles ("scale-sensitive") pour l'analyse des propriétés géométriques des surfaces et des dérivées (complexités) d’échelle, notamment les méthodes length-scale et area-scale (anciennement logiciel Sfrax)

    30 jours d'essai gratuit

    Free trial

    Essayez gratuitement le logiciel Mountains®10