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Fonctionnalités de MountainsLab®

Confluence des données
  • Toutes les données de différents instruments (profilomètres, microscopes) regroupées au même endroit
  • Analyses accélérées
  • Compatibilité avec les documents créés par d’autres utilisateurs de Mountains®
  • Traitement de données de n’importe quel type d’instrument d’analyse de surfaces et d’images ou presque
Compatibilité avec n'importe quel instrument
  • Traitement de données de profilomètres, microscopes optiques, microscopes électroniques à balayage (SEM), microscopes à sonde locale (SPM) et techniques spectroscopiques
  • Des centaines de formats de fichier téléchargeables
Analyse corrélative
  • Analyse corrélative
  • Fonction de colocalisation pour combiner et superposer des données de différents instruments
  • Options de rendu avancées
Analyse d'états de surface
  • L’expertise de Digital Surf en métrologie et analyse de surfaces
  • Analyse de l’état de la surface
  • Filtres et paramètres avancés
Analyse avancée de particules et de fibres
  • Détection et quantification des particules et fibres d’intersection sur n’importe quelle surface
  • Techniques de segmentation orientées applications
  • Classification des particules selon leurs caractéristiques
  • Génération de statistiques et des graphiques
Production de statistiques
  • Génération de statistiques pour des populations de données statiques ou dynamiques
  • Création de rapports statistiques
  • Détection et mise à jour automatique des données de MountainsLab®
  • Affichage des données sous forme graphique
Analyse de contour avancée
  • Création automatique de dimensions de profil
  • Comparaison de profils avec des données CAO ou une forme nominale
  • Affichage des écarts de forme sous forme graphique
Spectroscopie de force
  • Analyse des courbes de force et des données force-volume
  • Détection des forces d’adhésion, application de modèles WLC (wormlike chain) pour le dépliement de protéines, création de cartes du module de Young, etc.
Traitement des données pour les techniques spectroscopiques
  • Visualisation et analyse des spectres, cartes spectrales et images spectrales
  • Corrélation des données de spectroscopie à des données et images d’autres instruments
  • Chargement de cubes multicanaux de données compositionnelles
Colorisation d'image SEM
  • Ajout de couleurs aux objets dans les images SEM en quelques clics seulement
  • Détection automatique d’objets
  • Gain de temps plutôt que d’utiliser un logiciel d’édition d’images
Reconstruction d'image SEM en 3D
  • Topographie de surface en 3D à partir de deux balayages inclinés successifs de votre échantillon ou plusieurs images balayées par un détecteur de segments multiples, le tout en quelques secondes
Apprentissage et enseignement
  • Tutoriels et modèles prêts à l’emploi adaptés à chaque type d’instrument
  • Formez vos nouveaux collègues aux routines d’analyse de surfaces et d’images à l’aide de documents-modèles

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    Modules optionnels recommandés

    La gamme suivante de modules optionnels pour des applications avancées et spécialisées est disponible pour MountainsLab®.

    Advanced Profile Module

    Filtrage de profil avancé, analyse de Fourier, analyse fractale, analyse statistique d'une série de profils

    Disponible dans MountainsLab® Premium
    Disponible dans MountainsLab® Expert
    Contour Analysis Module

    Dimensionnement géométrique de base et tolérancement des profils de contour et profils horizontaux (extraits d'images, de surfaces etc.)

    Disponible dans MountainsLab® Premium
    En option pour MountainsLab® Expert
    Advanced Contour Analysis Module

    Dimensionnement et tolérancement avancés, comparaison CAO en DXF, arche gothique

    Disponible dans MountainsLab® Premium
    En option pour MountainsLab® Expert
    Automotive Module

    Évaluer les performances fonctionnelles avec un ensemble complet de paramètres de profil, développé par l'industrie automobile

    Disponible dans MountainsLab® Premium
    Disponible dans MountainsLab® Expert
    Advanced Topography Module

    Études avancées, paramètres et filtres pour l'analyse de texture des surfaces 3D (« surfaciques »)

    Disponible dans MountainsLab® Premium
    Disponible dans MountainsLab® Expert
    Fourier & Wavelets Module

    Analyse de texture basée sur la Transformation de Fourier (FT), filtrage FT avancé, analyse multi-échelle par ondelettes

    Disponible dans MountainsLab® Premium
    En option pour MountainsLab® Expert
    Shell Extension Module

    Gestion de surfaces de forme libre, analyse de forme complexe, visualisations 3D de haute qualité

    Disponible dans MountainsLab® Premium
    En option pour MountainsLab® Expert
    Shell Topography Module

    Une boîte à outils métrologiques pour les données de type coques (surfaces de forme libre)

    Disponible dans MountainsLab® Premium
    En option pour MountainsLab® Expert
    Shell CAD Compare Module

    Comparer efficacement et facilement des données de Coque mesurées (réel) aux modèles CAD (nominal) ou aux mailles générées

    En option pour MountainsLab® Premium
    En option pour MountainsLab® Expert
    Colocalization Module

    Colocaliser les données de différents types d'instrument et mener des études corrélatives

    Disponible dans MountainsLab® Premium
    Disponible dans MountainsLab® Expert
    Correlative Microscopy Module

    Traiter les cartes spectrales, corriger et améliorer les données d'images spectrales et réaliser une analyse corrélative

    Disponible dans MountainsLab® Premium
    Disponible dans MountainsLab® Expert
    Lead Analysis (Twist) Module

    Analyse de 2ème génération de structures hélicoïdales (twist) pour l'industrie automobile

    En option pour MountainsLab® Premium
    En option pour MountainsLab® Expert
    Particle Analysis Module

    Un ensemble d'outils complet pour détecter et analyser les particules, pores, îlots, etc. des surfaces structurées

    Disponible dans MountainsLab® Premium
    Disponible dans MountainsLab® Expert
    Fiber Analysis Module

    Analyser la morphologie de fibres, y compris le diamètre et la direction dans des images SEM (modes SE et BSE), dans des images de microscopie optique et dans des données topographiques.

    Disponible dans MountainsLab® Premium
    En option pour MountainsLab® Expert
    Scale-sensitive Analysis Module

    Méthodes multi-échelles ("scale-sensitive") pour l'analyse des propriétés géométriques des surfaces et des dérivées (complexités) d’échelle, notamment les méthodes length-scale et area-scale (anciennement logiciel Sfrax)

    En option pour MountainsLab® Premium
    En option pour MountainsLab® Expert
    Lens Analysis Module

    Analyser ou simuler des profils et surfaces asphériques et évaluer l'état de surface selon la norme ISO 10110-8 pour les systèmes d'imagerie, applications laser et capteurs

    Disponible dans MountainsLab® Premium
    En option pour MountainsLab® Expert
    Force Curve Analysis Module

    Analyser les données de spectroscopie de force : courbes de force (courbes de données force-distance) et données force-volume. Mesurer les événements d'adhésion, la nanoindentation et ajuster les modèles WLC.

    Disponible dans MountainsLab® Premium
    En option pour MountainsLab® Expert
    Spectroscopy Module

    Visualiser, traiter, analyser et corréler les données de spectroscopie : IR, Raman/TERS, EDS/EDX/XRF et plus

    Disponible dans MountainsLab® Premium
    Disponible dans MountainsLab® Expert
    IV Spectroscopy Module

    Visualisation 3D et analyse des images spectroscopiques IV et analyse individuelle de la courbe IV (y compris les données CITS)

    Disponible dans MountainsLab® Premium
    En option pour MountainsLab® Expert
    Thickness Analysis Module

    Caractérisation interactive de l'épaisseur globale ou spécifique à une zone basée sur une paire de surfaces ou de profils

    Disponible dans MountainsLab® Premium
    En option pour MountainsLab® Expert
    Critical Dimensions & Trenches Module

    Calculer les dimensions critiques et caractériser la rugosité de bord de ligne / rugosité de largeur de ligne dans des procédés de fabrication de semiconducteurs.

    En option pour MountainsLab® Premium
    En option pour MountainsLab® Expert
    4D Surface Change Module

    Analyser l'évolution d'une surface en fonction du temps, de la température, du champ magnétique ou de toute autre dimension

    Disponible dans MountainsLab® Premium
    En option pour MountainsLab® Expert
    Chemical Cubes Module

    Visualisation et analyse complètes de cubes multicanaux de données compositionnelles

    Disponible dans MountainsLab® Premium
    En option pour MountainsLab® Expert

    Sélectionnez votre produit

    MountainsLab® Premium

    MountainsLab® Expert

    Compatibilité des instruments

    Tous types d’instrument d’imagerie et de mesure de surfaces : Profilomètre 2D/3D, microscope optique, microscopes électroniques à balayage, microscopes à sonde locale, spectromètre, etc.

    Fonctionnalités clés

    Analyse de rugosité et d’ondulation sur des profils et des surfaces

    Colorisation d’images SEM et reconstruction 3D à partir de plusieurs images SEM

    Outils de correction, paramètres et filtres pour l’analyse d’images de microscopes à sonde locale

    Traitement de cartes spectrales et amélioration et correction d’images spectrales

    Mesure de correction et outils de filtrage pour les images de microscopes optiques et d’autres techniques

    Analyse statistique des populations de données statiques et dynamiques

    Modules optionnels

    Analyse de profil avancée

    Paramètres de profils automobiles

    Analyse de topographie avancée

    Analyse de particules

    Analyse corrélative

    Spectroscopie

    Analyse de contour

    Option

    Analyse de contour avancée avec comparaison CAO

    Option

    Analyse de Fourier et Ondelettes

    Option

    Analyse de fibres d’images et topographie

    Option

    Analyse de lentilles

    Option

    Courbe de force et analyse force-volume

    Option

    Spectroscopie IV

    Option

    Analyse d’épaisseur

    Option

    Analyse de changement de surface 4D

    Option

    Cubes chimiques

    Option

    Support pour Coques (surface de forme libre)

    Option

    Topographie de Coque pour l’analyse métrologique

    Option

    Coque avec comparaison CAO

    Option Option

    Analyse fractale multi-échelle

    Option Option

    Analyse de structures hélicoïdales (Twist)

    Option Option

    Dimensions critiques & Tranchée

    Option Option
    Inclus
    Option
    Disponible en option
    Non compatible

    Types d’instrument et marques compatibles

    Types d’instrument
    • Microscopes couleurs et N&B
    • Caméras
    • Dispositifs d’imagerie

    Cliquez pour en voir plus

    Marques compatibles
    • Bruker Nano
    • Hitachi High-Tech
    • Jeol
    • KLA Corporation
    • Mitutoyo
    • Nanofocus
    • Sensofar
    • Taylor Hobson
    • Zeiss

    Cliquez pour en voir plus

    30 jours d'essai gratuit

    Free trial

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