MountainsMap®：表面解析のゴールドスタンダード

MountainsMap®は、2D断面および3D（面領域）表面の両方について、国際規格に基づいて粗さおよびテクスチャパラメータを算出します。対応規格には、ISO 21920、ISO 4287、ISO 12085、ISO 13565、ASME B46.1、およびVDAが含まれます。

• Ra、Rq、Rsk、Rku、RSm、Rz、RPc、Rmrなどの主要な断面パラメータに加え、Rk、Rpk、Rvkなどの機能パラメータを解析します。
• 表面については、Sa、Sq、Sz、Sdq、Sdr、Vmp、VmcなどのISO 25178準拠のパラメータを算出します。
• 品質管理および研究開発の要件に対応するため、一次断面、うねり断面、およびフィルタされた断面または表面を容易に切り替えることが可能です。

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高度なフィルタリングおよび形状削除ツールを使用して、表面データの前処理を容易に行うことが可能です。

• ISO 16610に準拠し、ガウシアン、ロバストガウシアン、スプライン、または形態学的フィルタを使用して、SフィルタおよびLフィルタを適用します。従来のRC2フィルタにも対応しています。
• 多項式、円筒、または球面形状を使用し、最小二乗法または全最小二乗法によるあてはめ、最小領域、またはカーソルによる手動定義により、F-オペレーション（形状削除および表面レベリング）を実行します。注：F-オペレータの適用は不可欠であり、他のいかなる計測処理の前にも実行する必要があります – 詳細はこちら。

MountainsMap®の補正ツールを使用して、光学式表面測定の精度を確保します。

• 異常値（「スパイク」として現れる場合があります）を検知して取り除きます。
• 非測定点を補完
• 低強度点にしきい値を適用します。
• ノイズを除去します。

これらの前処理ステップは、干渉式、共焦点、またはフォーカスバリエーションデータを扱う際に不可欠であり、測定データを高精度な表面テクスチャ解析に適した状態に準備します。

• MountainsMap®の強力な機能的表面特性評価ツールにより、粗さ解析を超えた解析を可能にします。
  • 基準平面の上または下における空隙容積またはマテリアル容積を算出し、表面機能を評価します。
  • 負荷曲線に基づく負荷面積比、潤滑容積、または変位マテリアルを算出し、トライボロジー、耐摩耗性、シーリングなどの用途において重要な指標を提供します。

  本ソフトウェアは比較解析（例：処理前/処理後）にも対応しており、表面改質が機能性能に与える影響を容易に評価することが可能です。これらの解析により、エンジニアは実際の機械的および機能的性能に優れた表面設計を行うことが可能になります。

• MountainsMap®は、粒子、孔、結晶粒、スクラッチ、およびMEMSパターンなどの構造を検知し、評価します。半導体、医療、自動車産業における品質管理に最適です。
  • サンプルの特性に応じて複数の検知メソッドから選択します。
  • 自動分岐点セグメンテーションを使用してフィーチャを分離し、その後、ISO 25178-2:2021の機能パラメータ（深さ、体積、形状など）を使用して解析します。
  • サイズ、形状、ユーザー定義基準などによってフィーチャを分類し、管理図、ヒストグラム、散乱プロットを含む詳細な統計を生成します。

  さらに、自動分割、表面形状制御（例：ステップ高）、および構造検知のためのツールにより、マイクロパターン表面または機能テクスチャの強力で再現性のある特性評価を可能にします。

自動およびインタラクティブなGD&Tツールにより、MountainsMap®は3D表面から抽出された高度断面（XZ）または2D輪郭（XY）に対する寸法解析を可能にします。ユーザーは、規格に基づいた高精度な幾何検証により、製造精度を確保します。

• ISO 1101で定義された公差を適用します。
• 寸法、角度、直径、半径、位置、および形状偏差を評価します。
• 測定結果をCAD基準と比較します。
• 円弧、セグメント、楕円、および円に対して公差を適用します。必要に応じて大きな位置公差を指定します。
• 拡大表示されたグラフィックスにより、形状偏差を容易に可視化します。
• 合格または不合格のステータスを含む結果表を自動的に生成します。
• ゴシックアーチ（ベアリング上）やV溝などの複雑な形状を解析します ― 光ファイバーやウォームギアの検査に有用です。

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• 輪郭解析
• 高度な輪郭解析

• MountainsMap®のスペクトル解析ツールを使用して、表面の周波数成分を解析します。支配的な空間周波数を検知し、周期構造を解析し、テクスチャの方向性を評価します。
  • ISO 10110-8に準拠したパワースペクトル密度（PSD）ツールを使用して、各周波数におけるパワー密度の大きさを解析することで、表面挙動を特性評価します。
  • 自己相関を適用して、断面または表面上の繰り返しパターンを検出します。
  • 等方性、方向性、および周期性を算出：コンパスローズ上で支配的な表面方向を表示し、パラメータを算出します。
  • FFTプロットエディタを使用して表面をデノイズします。

  スペクトルツールは、プロセスシグネチャの特定、光学部品の性能評価、または機械加工欠陥の診断に最適であり、表面解析ワークフローに強力な次元を追加します。

  スペクトル解析の詳細はこちら

MountainsMap®のマルチスケール解析ツールを使用して、異なる空間スケールにおける表面の複雑さを理解します。

• ウェーブレット変換または狭帯域パスフィルタを使用して表面または断面を分解し、サイズ毎にフィーチャを分離して、形状、うねり、および粗さ成分を区別します。
• スケールの影響を受けるフラクタル解析（SSFA）などの手法、または従来Sfraxソフトウェアに含まれていたツールを使用して幾何フラクタル解析を実行し、スケール全体にわたる表面挙動を評価し、表面の不規則性を定量化します。詳細を読む

これらのツールは機能表面設計の用途において不可欠であり、エンジニアや研究者が異なるスケールにおける表面特性の変化を評価することを可能にします。

MountainsMap®は、ソフトウェア内で「シェル」として知られる自由曲面（通常は三角メッシュで表現される）の解析に対応しています。これは、積層造形などの用途に有用です。

• 自由曲面（シェル）の読み込み、可視化、解析（STL、OBJ、PLY、3MFファイルに対応）
• 解析前にデータをクリーンアップ：異常値を取り除く、メッシュを再構築する、フィルタを適用する、メッシュをスムージングする。
• 幾何形状をあてはめる、またはメッシュをCADモデルに位置合わせすることで、高精度な比較および偏差の生成を行います。
• 計測解析を実行：高度、複合/空間、および体積パラメータなどの自由曲面の表面性状パラメータを算出。
• 3Dで表面曲率および偏差を色として可視化

注：シェルは、トモグラフィデータ（キューブ）から抽出することも、複数の表面取得データから取得することも可能です。

点群データの可視化および解析も可能：

• 分割されたスキャンを再構成し、複数の点群を単一のデータセットに統合する。
• 点群をメッシュ化します。

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MountainsMap®のスティッチングツールを使用して、複数の測定をシームレスな複合データに容易に結合します。

• オーバーラップ領域を持つスキャンのXYスティッチング、または測定深さを拡張するための垂直（Z）スティッチングを実行します。これは特に、大面積または高解像度のトポグラフィに有用です。
• 3Dスティッチング（シェルトポグラフィモジュールを使用）を実行し、3D点群および/またはシェル（自由曲面）を生成します。
• MEMSなどの微細加工表面に対して、単一の測定を個々のエレメントに分割し、各コンポーネントを個別に解析します。この機能は半導体検査用途に対応します。