Scroll Up

ニュースレター

最新の画像、解析、測定に関するDigital Surfからのニュースを常に把握しておいてください。

私はこのニュースレターを受け取ることに同意します。また、私はいつでも簡単に解約することができることも理解しています。
ご 覧 の 文字 を 入 力 し て く だ さ さ :

Newsletter

MountainsSEM®の特徴

SEM画像着色&向上
  • SEM画像を素早く簡単にカラー化する「クリック&カラー」ツール
  • 画像修正と向上ツールの適用
ステレオペアから3Dを再構築
  • サンプルのチルトした画像を2枚とると、たった2~3秒で3D表面トポグラフィが再構築でき、正確な高さの値が得られます。
  • 正確な高度(値)を取得し、表面粗さを評価します
4画像からの3D再構築

4象限検出器を使用して取得した4つの画像から3D表面トポグラフィーを再構成します。

単一画像からの3Dレンダリング
  • 単一のSEM画像からラフドラフト3Dレンダリングを生成
  • 画像の可視的解釈を改善
EDSマップで「3D」効果を作成

EDS(EDX)マップまたはその他のスペクトル/構成データをSEM画像から再構成されたトポグラフィーと関連付けて、見事なレンダリングを作成します。

FIB - SEMトモグラフィー
  • 集束イオンビーム走査型電子顕微鏡画像シリーズの読み込み、表示、解析
  • アソシエイトトモグラフィーと化学解析
2D粒子解析

強力な粒子解析ツールをSEMデータに適用し、SEM固有のオブジェクト認識を使用して画像内の特徴を自動的に識別して定量化します。

スケールと寸法機能
  • 画像を拡大縮小する
  • 画像自体から直接何らかの特徴を正確に測定します。 特徴とは、 長さ、面積、周長、角度などです。
相関解析
  • 異なる検出器からのSEM画像、またはAFMやEDS (EDX) などの他の測定機器からのデータと統合
  • SEM画像をスペクトル解析データとコローカライゼーション

製品を選択

MountainsSEM® Premium MountainsSEM® Expert MountainsSEM® Color

機器の互換性

あらゆる走査電子顕微鏡(SEM)

クイックSEM画像着色

基本的解析寸法ツール

画像修正と向上ツール

2または4象限SEM画像から超高速3D再構築

単一SEM画像を即座に3Dに変換

表面トモグラフィー上のEDS/EDXマップ オーバーレイ

2D粒子解析と特性評価

FIB – SEMトモグラフィーの可視化と解析

繊維解析

付属
オプションとして利用可能
互換性がありません

30日間の無料トライアル

Free trial

Mountains® 10ソフトウェアを無料でお試しいただけます