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MountainsLab®の内容

データ融合
  • 複数の機器からのデータを統合(表面形状測定装置、顕微鏡)
  • 解析を高速化
  • 他のMountains®ユーザーによって作成されたあらゆる文書を読み込みます
  • ほぼすべての種類の表面および画像解析装置からのデータを処理します
あらゆる装置に対応
  • 表面形状測定装置、光学顕微鏡、走査型電子顕微鏡(SEM)、走査型プローブ顕微鏡(SPM)および分光技術からのデータを処理します
  • 数百種類のファイル形式を読み込み
相関解析
  • 相関解析を実施
  • 共局在化機能を使い、異なる機器のデータを組み合わせて重ね合わせます
  • 高度なレンダリングオプションにアクセス
表面テクスチャ解析
  • 表面測定におけるDigital Surfの専門知識を活用
  • 表面テクスチャを解析
  • 高度なフィルタおよびパラメータにアクセス
高度な粒子・ファイバー解析
  • あらゆる表面の粒子やファイバーを検出・定量化
  • 用途に応じたセグメント技術を活用
  • 粒子を特徴に基づいてクラス分け
  • 統計とグラフィックの生成
統計を生成
  • 静的または動的なデータ集団の統計を生成
  • 統計レポートを作成
  • MountainsLab®によりデータを自動的に検知および更新
  • データをグラフィカルに表示
高度な外形解析
  • 断面の寸法を自動的に生成
  • 断面をCADデータまたは公称形状と比較
  • 形状偏差をグラフィカルに表示
フォース分光法
  • フォースカーブおよびフォースボリュームを解析
  • 付着力を検知し、タンパク質アンフォールディングに対してワームライクチェーン(WLC)モデルを適用し、ヤング率マップなどを生成
分光技術向けデータ処理
  • スペクトル、スペクトルマップおよび超スペクトル画像を可視化および解析
  • 分光データを他の装置からのデータおよび画像と相関解析
  • 組成データのマルチチャネル立方体を読み込み
SEM画像のカラー化
  • 数クリックでSEM画像内のオブジェクトに色を追加
  • オブジェクトを自動検出
  • 画像編集ソフトウェアを使用する場合と比較して時間を短縮
3D SEM画像再構成
  • 試料の連続した2つの傾斜スキャン、またはマルチセグメント検出器で取得された複数の画像から、数秒で3D表面トポグラフィを生成
学習および教育
  • 各装置タイプに適したチュートリアルおよびすぐに使用可能なテンプレートにアクセスする
  • テンプレートを使用して、新しい同僚に表面および画像解析の手順を教育する

    表示されているテキストを入力してください:captcha

    オプションモジュールの推奨

    以下の高度および特定用途向けオプションモジュールをMountainsLab®で利用できます。

    Advanced Profile (モジュール)

    高度な断面フィルタリング、フーリエ解析およびフラクタル解析、およびシリーズの断面の統計解析

    で利用可能 MountainsLab® Premium
    で利用可能 MountainsLab® Expert
    Contour Analysis (モジュール)

    輪郭断面の基本的な幾何学的寸法記入と画像表面から抽出された平行輪郭など

    で利用可能 MountainsLab® Premium
    のオプション MountainsLab® Expert
    Advanced Contour Analysis (モジュール)

    高度な寸法と公差、DXF CAD比較、ゴシックアーチ

    で利用可能 MountainsLab® Premium
    のオプション MountainsLab® Expert
    Automotive(モジュール)

    自動車産業によって開発されたフルセットの断面パラメータで機能性能を評価します

    で利用可能 MountainsLab® Premium
    で利用可能 MountainsLab® Expert
    Advanced Topography (モジュール)

    3D(「領域」)表面性状解析の高度な調査、パラメータ、フィルタ

    で利用可能 MountainsLab® Premium
    で利用可能 MountainsLab® Expert
    Fourier & Wavelets (モジュール)

    FTベースのテクスチャ解析、高度なFTフィルタリング、ウェーブレットによるマルチスケール解析

    で利用可能 MountainsLab® Premium
    のオプション MountainsLab® Expert
    Shell Extension (モジュール)

    フリーフォーム表面管理、複雑な形状の解析、高品質3D視覚化

    で利用可能 MountainsLab® Premium
    のオプション MountainsLab® Expert
    Shell Topography (モジュール)

    シェルデータ用の計測ツールボックス(自由曲面)

    で利用可能 MountainsLab® Premium
    のオプション MountainsLab® Expert
    Shell CAD Compare (モジュール)

    測定シェルデータ(実データ) とCADモデル(ノミナル)または生成されたメッシュを効率的かつ容易に比較可能

    のオプション MountainsLab® Premium
    のオプション MountainsLab® Expert
    Colocalization (モジュール)

    1つ以上の機器タイプからの表面データと画像データのコローカリゼーションと調整

    で利用可能 MountainsLab® Premium
    で利用可能 MountainsLab® Expert
    Correlative Microscopy (モジュール)

    スペクトルマップの処理、スペクトル画像データの補正とエンハンスメント、相関解析を実施する

    で利用可能 MountainsLab® Premium
    で利用可能 MountainsLab® Expert
    Lead Analysis (Twist) (モジュール)

    自動車業界の第2世代のリード(ねじれ)解析

    のオプション MountainsLab® Premium
    のオプション MountainsLab® Expert
    Particle Analysis (モジュール)

    構造化された表面の粒子、細孔、粒子、島などを検出および解析するための包括的なツールセット

    で利用可能 MountainsLab® Premium
    で利用可能 MountainsLab® Expert
    Fiber Analysis (モジュール)

    SEM画像(SEモードとBSEモード)、光学顕微鏡画像、地形データの直径と方向などの繊維形態を解析します。

    で利用可能 MountainsLab® Premium
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    Scale-sensitive Analysis (モジュール)

    長さスケールまたは領域スケール解析に基づいたマルチスケール解析を実装します(以前はSfraxソフトウェアで)

    のオプション MountainsLab® Premium
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    Lens Analysis (モジュール)

    イメージングシステム、センサー、レーザーアプリケーションにおいて、非球面および断面を解析またはシミュレートし、ISO 10110-8に準拠した表面仕上げを評価

    で利用可能 MountainsLab® Premium
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    Force Curve Analysis (モジュール)

    AFM フォースス分光法データ(フォースカーブ(フォース-距離曲線)およびフォースボリュームデータセットを含む)を解析。付着イベントを測定し、ナノインデンテーション解析を実行するとともに、WLC(ワームライクチェーン)などの高度なモデルをあてはめ。

    で利用可能 MountainsLab® Premium
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    Spectroscopy (モジュール)

    分光データの可視化、処理、解析および相関 IR、ラマン、TERS、EDS/EDX、XRFなど

    で利用可能 MountainsLab® Premium
    で利用可能 MountainsLab® Expert
    IV Spectroscopy (モジュール)

    IV分光画像の3D可視化と解析および個々のIV曲線解析(CITSデータを含む)

    で利用可能 MountainsLab® Premium
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    Thickness Analysis (モジュール)

    一対の表面または断面に基づいたグローバルまたはゾーン固有のインタラクティブな厚さ特性解析

    で利用可能 MountainsLab® Premium
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    Coplanarity & Warpage Analysis (モジュール)

    高度な電子アセンブリにおいて信頼性の高い電気接続を確保するため、共面性と反りを測定します。

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    Critical Dimensions & Trenches (モジュール)

    半導体製造プロセスにおける限界寸法を計算し、線端の粗さ/線幅の粗さを評価します。

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    4D Surface Change (モジュール)

    表面進化を時間、温度、磁場または他の次元で解析

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    Chemical Cubes (モジュール)

    構成データのマルチチャネルキューブの完全な可視化と解析

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    製品を選択

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    MountainsLab® Expert

    装置の互換性

    あらゆる種類の表面測定および画像化装置:2D/3D表面形状測定装置、光学顕微鏡、走査型電子顕微鏡、走査型プローブ顕微鏡、分光器など

    主なフィーチャ

    断面および表面の粗さ・うねり解析

    SEM画像のカラー化および複数のSEM画像からの3D再構築

    SPM画像解析向け補正ツール、パラメータ、フィルタ

    スペクトルマップの処理およびスペクトル画像の補正・強調

    光学顕微鏡およびその他の技術からの画像に対する補正、測定およびフィルタリングツール

    静的および動的集合体の統計解析

    オプションモジュール

    高度な断面解析

    自動車向け断面パラメータ

    高度なトポグラフィ解析

    粒子解析

    相関解析

    分光法

    外形解析

    Option

    CAD比較を含む高度な外形解析

    Option

    フーリエおよびウェーブレット解析

    Option

    画像およびトポグラフィのファイバー解析

    Option

    レンズ解析

    Option

    フォースカーブおよびフォースボリューム解析

    Option

    IV分光法

    Option

    厚さ分析

    Option

    4D表面変化解析

    Option

    ケミカルキューブ

    Option

    シェル(自由曲面)対応

    Option

    計測解析向けシェルトポグラフィ

    Option

    シェルCAD比較

    Option Option

    スケールの影響を受けるフラクタル解析

    Option Option

    リード解析(ツイスト)

    Option Option

    Coplanarity & Warpage Analysis

    Option Option

    限界寸法およびトレンチ

    Option Option
    標準搭載
    Option
    必要に応じて追加可能
    非対応

    装置タイプおよび対応ブランド

    装置タイプ
    • カラーおよび白黒顕微鏡
    • カメラ
    • あらゆる物理画像化装置

    詳細を見る

    対応ブランド
    • Bruker Nano
    • Hitachi High-Tech
    • Jeol
    • KLA Corporation
    • Mitutoyo
    • Nanofocus
    • Sensofar
    • Taylor Hobson
    • Zeiss

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