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Datenzusammenführung
Daten mehrerer Instrumente zusammenführen
Aktuelle Dokumente und Analysen anderer Mountains®-Anwender laden (über 22.000 Anwender weltweit)
Daten von praktisch allen Arten von Oberflächen- und Bildanalysegeräten verarbeiten (über 50 Gerätehersteller liefern Mountains®-Software oder Derivate mit ihren Geräten aus)
Mit jedem Gerät kompatibel
Unterstützte Geräte:
Hunderte unterstützte Dateiformate, darunter:
Korrelationsanalyse
Analyse der Oberflächentextur
Erweiterte Partikel- und Faseranalyse
Erstellen von Statistiken
Erweiterte Konturanalyse
Kraftspektroskopie
Datenverarbeitung für Spektroskopie-Verfahren
REM-Bild-Einfärbung
Wenn Sie REM-Bilder einfärben, hilft das bei der Darstellung und Interpretation der darin enthaltenen Daten. Außerdem machen eingefärbte Bilder in Veröffentlichungen mehr her.
3D-REM-Bildrekonstruktion
Lernen & Lehren
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MountainsLab® Premium |
MountainsLab® Expert |
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Geräte-Kompatibilität |
Alle Arten von Oberflächenmess- und Bildgebungsinstrumenten: 2D-/3D-Profilometer, Lichtmikroskope, Rasterelektronenmikroskope, Rastersondenmikroskope, Spektrometer usw. |
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Wichtigste Funktionen |
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Rauheits- und Welligkeitsanalyse von Profilen und Oberflächen |
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SEM-Bild-Einfärbung und 3D-Rekonstruktion aus Stereo- oder 4-Quadranten-SEM-Bildern |
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Korrekturwerkzeuge, Parameter und Filter für die SPM-Bildanalyse |
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Spektralkartenverarbeitung und Spektralbildkorrektur sowie ‑verbesserung |
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Korrekturmessung und Filterwerkzeuge für mit Lichtmikroskopen und anderen Verfahren gewonnene Bilder |
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Statistische Analyse statischer und dynamischer Populationen |
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Optionale Module |
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Erweiterte Profilanalyse |
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Profilparameter im Automobilbereich |
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Erweiterte Topografieanalyse |
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Partikelanalyse |
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Korrelationsanalyse |
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Spektroskopie |
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Konturanalyse |
Option | |
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Erweiterte Konturanalyse einschließlich CAD-Vergleich |
Option | |
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Fourier- und Wavelets-Analyse |
Option | |
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Faseranalyse von Bildern und Topografie |
Option | |
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Linsenanalyse |
Option | |
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Kraftkurven- und Kraftvolumenanalyse |
Option | |
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IV-Spektroskopie |
Option | |
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Dickenanalyse |
Option | |
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4D-Oberflächenveränderungsanalyse |
Option | |
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Chemische Würfel |
Option | |
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Unterstützung für Schalen (Freiformflächen) |
Option | |
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Schalentopografie für messtechnische Analysen |
Option | |
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Schale mit CAD vergleichen |
Option | Option |
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Multiskalen-Fraktal-Analyse |
Option | Option |
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Drallanalyse (Verdrehung) |
Option | Option |
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Kritische Abmessungen und Vertiefungen |
Option | Option |