Un logiciel d'analyse AFM et SPM conçu par des experts

• Détectez et quantifiez des particules, pores et autres éléments (quelle que soit la forme ou la taille) sur tout type de surface
• Tirez parti des techniques de segmentation orientées applications
• Regroupez les particules en classes selon leurs caractéristiques
• Générez des statistiques et des graphiques (diagramme de dispersion, diagramme en boîte, carte de contrôle, histogramme, etc.)

• Visualisez des courbes de force et prétraitez-les automatiquement avec des outils de débruitage, de normalisation et d’étalonnage
• Détectez automatiquement des événements d’adhésion et calculez des paramètres
• Calculez le module de Young, les énergies, la rigidité, etc.
• Générez des modèles WLC (worm-like chain)
• Analysez une série de courbes de force et générez des statistiques (cartes de contrôle, diagrammes de dispersion, histogrammes) sur n’importe quel paramètre
• Visualisez des données force-volume et affichez des cartes de paramètres interactives
• Filtrez les données force-volume et extrayez des tranches ou des courbes de force individuelles de manière interactive

• Combinez des images SPM avec des données d’autres instruments (SEM, microscopes optiques 3D, microscopes confocaux, etc.) pour mener une étude corrélative.
• Superposez des images de topographie de haute résolution, acquises avec un microscope à force atomique (AFM) sur des images RVB acquises avec un microscope ayant un plus grand champ de vision (SEM, fluorescence, images optiques).
• Réalisez une colocalisation à l’aide de données compositionnelles chimiques (de spectroscopie)

À gauche : colocalisation d’une image SEM avec une tomographie AFM.

Les microscopes à sonde locale acquièrent généralement plusieurs interactions simultanément. À travers leurs différents modes, les SPM produisent plusieurs ensembles de données au même endroit sur l’échantillon (topographie, conductivité ou raideur, par exemple).

• Manipulez des images multicanales comme s’il s’agissait d’une simple image de topographie
• Visualisez différents canaux en 3D en touchant simplement un bouton
• Appliquez une analyse à un seul canal ou à tous les canaux
• Extrayez des coupes transversales multicanales
• Explorez les corrélations entre différents canaux

En savoir plus : wwww.digitalsurf.com/news/multi-channel-data-how-to-study-correlations/

• Rationalisez votre processus d’analyse et améliorez votre efficacité grâce à des outils sans code
• Gagnez en efficacité dans l’analyse de grands ensembles de données en enregistrant des séquences d’analyse et en les réappliquant automatiquement
• Sauvegardez votre travail et reprenez-le en toute fluidité
• Valorisez votre analyse avec de puissants outils statistiques intégrés

• Assemblez automatiquement plusieurs images, avec vitesse et cohérence, y compris celles présentant de grands chevauchements.
• Visualisation intelligente : visualisez et positionnez facilement les images à assembler.
• Assistant de grille : pré-organisez les mesures en utilisant des propriétés d’étudiable (nom, numéro, date, etc.)
• Stitching sélectif : filtrez les éléments à inclure, une fonction idéale pour les données corrigées et les flux de travail automatisés.

Correction des lignes de balayage anormales et des artefacts de mesure

• Correction ligne par ligne automatique suivie par un redressement, ignorer les structures au-dessus de la surface (bosses) et au-dessous (creux).
• Correction de lignes individuelle par interpolation
• Retouche pour supprimer les artéfacts isolés.
• Seuil, etc.

Normalisation

• Les surfaces peuvent être redressées, basculées vers l’axe vertical ou horizontal et tournées par incrément d’un degré avant analyse.
• Les zones sur les surfaces peuvent aussi être extraies pour une étude indépendante.

Filtres de débruitage

• Filtres spatiaux avec des matrices configurables
• Éditeur de diagramme FFT

• Pour les motifs réguliers, déterminez un réseau en détectant une maille et quantifier ses dimensions
• Quantifiez les erreurs de mise à l’échelle et de linéarité
• Utilisez ces valeurs comme facteurs de correction pour rectifier la linéarité et la mise à l’échelle d’autres surfaces

Corrigez l’effet de la pointe sur la surface mesurée.

• Simulez la géométrie de la pointe
• Estimez la géométrie de la pointe avec la méthode de « reconstruction à l’aveugle » de Villarrubia
• Enregistrez la géométrie de pointe et réutilisez-la pour la déconvolution d’autres surfaces

• Séparez les composants de rugosité des composants d’ondulation des surfaces à l’aide des techniques récentes les plus avancées de filtrage ISO 16610, notamment les filtres Gaussien robuste et splines.
• Utilisez les paramètres ISO : paramètres de hauteur (Sa, Sq, Ssk, Sku, Sz, etc.,) et fonctionnels (Smr, Smc, Sxp) définis dans la norme ISO 25178, paramètres de rugosité et primaires (Ra, Rq, Rsk, Rmr, Rdc, Rdq, RPc, etc.) définis dans la norme ISO 4287, etc.

• Traitez et analysez des images SPM multicanales, y compris des couches topographiques
• Nettoyez les données à l’aide de filtres avant analyse
• Corrélez plusieurs ensembles de données multicanaux, en utilisant plusieurs méthodes de positionnement, y compris automatique
• Réalisez une analyse complète spectrale et hyperspectrale
• Gérez facilement de grandes quantités de données à l’aide d’outils d’automatisation