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Kombinieren von Oberflächendaten aus verschiedenen Instrumententypen einschließlich optischer 3D-Profilometer und AFM, RTM, REM, Fluoreszenz-, Raman-, IR- und anderer Mikroskope.

Kolokalisieren von Bildern aus verschiedenen Geräten/Detektoren.

Überlagerung von Bildern auf einer 3D-Oberflächen-Topographie – Anzeige von 3D-Überlagerungen in beliebigen Zoomstufen und Winkeln.

Konvertieren von Farb- und Graustufenbildern in farbige 3D-Pseudo-Oberflächen (Z-Achse in Intensitätseinheiten).