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Frequenzspektrum – Frequenzspektrum-Diagramme für 3D-Oberflächen mit x und y, Wellenlänge, Winkel, Größe und Phase – 2D-Frequenzspektrum-Diagramme für 2D-Profile mit Wellenlänge, Größe und Phase.

Leistungsdichtespektrum – Anzeigen eines Leistungsdichtespektrum-Diagramms und interaktive Auswahl der vertikalen Skala und der Messposition (3D-Oberflächen und 2D-Profile).

Oberflächenisotropie, Richtwirkung und Periodizität – Berechnung der Isotropie, Periodizität, Periode und Periodenrichtung – Anzeige der dominanten Oberflächenrichtungen auf einer Kompassrose.

Autokorrelation und Interkorrelation – Untersuchung der Autokorrelation und Interkorrelation von 3D-Oberflächen und 2D-Profilen.

Erkennen kleinerer spektraler Strukturen – Verwenden von Hanning-Fenstern, um Streuspektrallinien zu entfernen.

Entrauschen – Filtern verrauschter Profile und Oberflächen, durch direkte Bearbeitung des FFT-Diagramms innerhalb ausgewählter Ober- und Untergrenzen.

Kontinuierliche Wavelet-Zerlegung – Darstellung von Skalen und räumlichen Positionen, an denen Phänomene auf 2D-Profilen auftreten – Verwendung von Wavelets des Typs Coiflet 1-5, Daubechies 1-10, Discrete Meyer, Gauss 1-8, Mexican Hat, Morlet und Symlet 1-8.

Diskrete Wavelet-Filterung – Zerlegen eines 2D-Profils oder einer 3D-Oberfläche in eine Serie von Profilen oder Oberflächen mit unterschiedlichen Skalierungsebenen – Auswahl der Skalierungsebenen für die Aufnahme in das Rauheitsprofil und somit in das Welligkeitsprofil – Verwenden der Wavelet-Familien Coiflet, Daubechies, Discrete Meyer, Spline und Symlet (Wavelet-Spline-Filterung ist eine erweiterte Filtertechnik, die in ISO 16610 definiert ist).

Hinweis: In Version 6 sind diese Funktionen als zwei separate Module verfügbar (3D-Fourier-Analyse und 3D-Wavelet-Analyse).