Besançon, Frankreich: Digital Surf veröffentlicht heute die Mountains® 8 Softwareplattform. Diese Version basiert weitgehend auf der Mountains® 7-Plattform, die 2013 eingeführt wurde und jetzt von den meisten großen Herstellern mit ihren Instrumenten geliefert wird.
Diese Version be-siegelt die Zusammenführung von Mountains® (international bekannt für Profilometer– und Rasterelektronenmikroskop-Datenanalyse) und SPIPTM (weithin anerkannt für Rastersondenmikroskopie)1, und setzt damit einen neuen Standard für Oberflächenmesstechnik und Bildanalyse.
Mountains® 8 beinhaltet eine enorme Steigerung der Rechengeschwindigkeit, neue Arten von Oberflächendaten, mehr Interaktivität und über hundert neue Funktionen.
Mit Mountains® 8 durchgeführte Partikelanalyse
Von gerätespezifischer Software bis hin zum Daten-Zusammenflusspunkt für Forschungslabors
Die neue Produktreihe Mountains® 8 bietet 3 Familien mit instrument-spezifischen Produkten:
• MountainsMap® für Profilometer mit 2D- und 3D-Kontakt- und berührungslosen Profilern.
• MountainsSEM®, speziell für Rasterelektronenmikroskope.
• MountainsSPIP®, speziell für SPM-Instrumente (Rasterkraftmikroskope, Rastertunnelmikroskope). Forschungslabors, die mehrere Arten von Instrumenten verwenden, kommen dank neuer Funktionen ebenfalls auf ihre Kosten mit der neuen MountainsLab®-Software, einem Super-Set-Produkt, das die Konfluenz (den Zusammenfluss) von Daten aus mehreren Quellen sicherstellt.
Deutlich höhere Rechengeschwindigkeiten
Mit ständig wachsender Bildauflösung erfordern moderne Mess- und Mikroskopiegeräte eine gesteigerte Prozessorleistung. Mountains® 8 ermöglicht Benutzern Zugriff auf die meisten Einzeloperationen in Echtzeit und auf Batch-Analyse-Operationen in ein paar Sekunden. Zu den Funktionen, die in Version 8 erheblich schneller gemacht wurden, gehören: Filtern (Form-, Welligkeits- und Rauheitstrennung), Entfernen von Ausreißern, Retuschieren, Ausfüllen von nicht gemessenen Punkten und Stereo-Rekonstruktion von REM-Bildern.
Ein stark erweitertes Toolset
Mountains® 8 bietet eine hochentwickelte Palette von Werkzeugen zur Verarbeitung von Messdaten und Bildern.
• Die Partikel- und Porenanalyse, die bei der Qualitätskontrolle von strukturierten Materialien (Metall-Legierungen usw.) oder bei der Charakterisierung von Nanostrukturanordnungen verwendet wird, wurde weitgehend überarbeitet und verbessert.
• Freiform-Oberflächendaten (Schalen) können geladen, visualisiert und in 3D gedruckt werden. Dadurch erhalten Sie einen umfassenden Einblick in Daten, die von Profilern mit mehreren Scanachsen und über Röntgentomografie (z. B. für additive Fertigung) erstellt wurden.
• Intelligente Tabellen mit Oberflächenbeschaffenheitsparametern führen den Benutzer jetzt automatisch durch komplexe Filteroptionen, um häufige Fehler zu vermeiden.
Außerdem erleichtert die in Mountains® 8 noch verbesserte Benutzerfreundlichkeit das Erlernen der Verwendung der Software. Benutzer können auf Beispieldaten, Tutorials und Dokumentvorlagen zugreifen, die auf ihrer eigenen Instrumententechnologie basieren. Dokumente selbst können als Lehrmittel verwendet werden, mit neuen Funktionen zum Demonstrieren von Methoden für Kollegen oder Studenten.
“Mountains® 7 bedeutete den Einstieg von Digital Surf in den Elektronenmikroskopiemarkt mit dem Versprechen, REM-Bilder aus der flachen Schwarzweißwelt in 3D-Farben umzuwandeln“ erklärt Geschäftsführer Christophe Mignot. “Im nächsten Schritt der Weiterentwicklung unserer Plattform hat Mountains® 8 viel zu bieten, insbesondere für SPM-Benutzer, die bei ihrer Untersuchung unendlich kleiner Strukturen den Schlüssel für die wissenschaftlichen Herausforderungen von morgen in der Hand haben, z.B. im Bereich Speicherung sauberer Energie oder Heilung von Krebs und von genetisch bedingten Krankheiten.”
1Digital Surf erwarb 2014 das dänische Unternehmen Image Metrology, das auf Rastersondenmikroskopiebildanalyse spezialisiert ist.