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MountainsSPIP®の特徴

高度な粒子解析
  • あらゆる形状・サイズのフィーチャを簡単に検出・定量化
  • サンプル全体または個別粒子毎に、70以上の特性(高度、面積、体積、ペリメーターなど)を定量可能
  • 1つまたは複数の母集団に対して分類を作成し、統計を生成
フォース分光法
  • フォースカーブおよびフォースボリューム画像の表示・処理・解析
  • データ補正、インタラクティブなパラメータマップ作成、大量のカーブ管理
  • 付着、ヤング率、エネルギー、剛性、WLCモデルなどの計算
相関解析
  • SPM画像を他の装置(SEM、3D光学顕微鏡、共焦点顕微鏡など)のデータと組み合わせて相関解析を実施
  • 化学組成データと共局在化
マルチチャネル画像解析
  • マルチチャネルファイルの取り扱い
  • 3Dでのチャネル別可視化
  • 単一層または全層への解析適用
  • 多層の断面抽出
SPM画像解析を自動化
  • SPM画像解析を高速化および効率化
  • 大量のデータを自動的に解析
  • 進捗を保存し、作業を中断した所から再開
  • 高度な統計ツールにアクセス
SPM画像のスティッチング

SPM/AFMの視野を超える大きなサンプルの解析時に、複数画像をつなぎ合わせます。

データ補正および正規化
  • 補正、正規化、ノイズ除去ツールで解析用データを準備
  • 異常なスキャンラインや孤立したアーティファクトを除去
  • FFTベースのフィルタリングとしきい値処理を活用
格子&横方向校正
  • 単位格子を検出することにより格子を自動的に特定
  • 補正パラメータを算出し、測定データに適用
  • FFT解析に基づいて単位格子検出を調整
チップデコンボリューション
  • チップコンボリューションによる画像歪みを補正
  • チップ形状をシミュレートまたは再構築し、それを他の測定データの解析に再利用
表面テクスチャ解析
  • 国際規格に準拠して表面テクスチャを特性評価
  • 高度なISO 16610フィルタリング手法およびISO 25178の3Dパラメータを適用
ナノスペクトルイメージングおよび解析

スペクトル解析機能を備えたSPM装置(ナノIR、TERS、SNOMなど)からのデータ解析

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    オプションモジュールの推奨

    以下の高度および特定用途向けオプションモジュールをMountainsSPIP®で利用できます。

    Contour Analysis (モジュール)

    輪郭断面の基本的な幾何学的寸法記入と画像表面から抽出された平行輪郭など

    のオプション MountainsSPIP® Premium
    と互換性なし MountainsSPIP® Expert
    と互換性なし MountainsSPIP® Starter
    と互換性なし MountainsSPIP® Nanospectral Expert
    と互換性なし MountainsSPIP® Nanospectral Starter
    Advanced Contour Analysis (モジュール)

    高度な寸法と公差、DXF CAD比較、ゴシックアーチ

    のオプション MountainsSPIP® Premium
    と互換性なし MountainsSPIP® Expert
    と互換性なし MountainsSPIP® Starter
    と互換性なし MountainsSPIP® Nanospectral Expert
    と互換性なし MountainsSPIP® Nanospectral Starter
    Colocalization (モジュール)

    1つ以上の機器タイプからの表面データと画像データのコローカリゼーションと調整

    で利用可能 MountainsSPIP® Premium
    のオプション MountainsSPIP® Expert
    のオプション MountainsSPIP® Starter
    で利用可能 MountainsSPIP® Nanospectral Expert
    で利用可能 MountainsSPIP® Nanospectral Starter
    Correlative Microscopy (モジュール)

    スペクトルマップの処理、スペクトル画像データの補正とエンハンスメント、相関解析を実施する

    で利用可能 MountainsSPIP® Premium
    のオプション MountainsSPIP® Expert
    のオプション MountainsSPIP® Starter
    で利用可能 MountainsSPIP® Nanospectral Expert
    で利用可能 MountainsSPIP® Nanospectral Starter
    Particle Analysis (モジュール)

    構造化された表面の粒子、細孔、粒子、島などを検出および解析するための包括的なツールセット

    で利用可能 MountainsSPIP® Premium
    で利用可能 MountainsSPIP® Expert
    のオプション MountainsSPIP® Starter
    のオプション MountainsSPIP® Nanospectral Expert
    のオプション MountainsSPIP® Nanospectral Starter
    Fiber Analysis (モジュール)

    SEM画像(SEモードとBSEモード)、光学顕微鏡画像、地形データの直径と方向などの繊維形態を解析します。

    のオプション MountainsSPIP® Premium
    のオプション MountainsSPIP® Expert
    と互換性なし MountainsSPIP® Starter
    のオプション MountainsSPIP® Nanospectral Expert
    のオプション MountainsSPIP® Nanospectral Starter
    Scale-sensitive Analysis (モジュール)

    長さスケールまたは領域スケール解析に基づいたマルチスケール解析を実装します(以前はSfraxソフトウェアで)

    のオプション MountainsSPIP® Premium
    と互換性なし MountainsSPIP® Expert
    と互換性なし MountainsSPIP® Starter
    と互換性なし MountainsSPIP® Nanospectral Expert
    と互換性なし MountainsSPIP® Nanospectral Starter
    Force Curve Analysis (モジュール)

    AFM フォースス分光法データ(フォースカーブ(フォース-距離曲線)およびフォースボリュームデータセットを含む)を解析。付着イベントを測定し、ナノインデンテーション解析を実行するとともに、WLC(ワームライクチェーン)などの高度なモデルをあてはめ。

    で利用可能 MountainsSPIP® Premium
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    Spectroscopy (モジュール)

    分光データの可視化、処理、解析および相関 IR、ラマン、TERS、EDS/EDX、XRFなど

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    で利用可能 MountainsSPIP® Nanospectral Expert
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    IV Spectroscopy (モジュール)

    IV分光画像の3D可視化と解析および個々のIV曲線解析(CITSデータを含む)

    で利用可能 MountainsSPIP® Premium
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    と互換性なし MountainsSPIP® Nanospectral Starter
    Critical Dimensions & Trenches (モジュール)

    半導体製造プロセスにおける限界寸法を計算し、線端の粗さ/線幅の粗さを評価します。

    のオプション MountainsSPIP® Premium
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    4D Surface Change (モジュール)

    表面進化を時間、温度、磁場または他の次元で解析

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    製品を選択

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    装置の互換性

    原子間力顕微鏡(AFM)、STM、SNOMなどを含むあらゆる走査型プローブ顕微鏡(SPM)

    製品機能

    アニメーション付き3D表示

    高度なファイルエクスプローラ

    自動化(テンプレート文書および文書の保存・読み込み機能)

    基本補正ツール(レベリング、ライン補正など)

    基本的な2D・3Dパラメータとフィルタ

    寸法測定(ステップ高さ、距離など)

    PDF・Word出力対応の充実したレポート機能

    充実した統計解析ツール一式

    チップデコンボリューション

    画像スティッチング

    オプションモジュール

    粒子および孔の検出・解析・分類

    Option Option Option

    相関顕微鏡法

    Option Option

    IV分光法

    Option

    フォースカーブ解析

    Option Option Option Option

    限界寸法およびトレンチ

    Option Option

    輪郭解析

    Option

    高度な輪郭解析

    Option

    ファイバー解析

    Option Option Option Option

    スケールの影響を受けるフラクタル解析

    Option

    分光法

    Option Option Option

    4D表面変化

    Option Option
    標準搭載
    Option
    必要に応じて追加可能
    非対応

    装置タイプおよび対応ブランド

    装置タイプ
    • 原子間力顕微鏡(AFM)
    • 走査トンネル顕微鏡(STM)
    • 磁気力顕微鏡(MFM)
    • ケルビンプローブ力顕微鏡(KPFM)

    詳細を見る

    対応ブランド
    • Horiba
    • Nanosurf
    • Oxford Instruments NanoAnalysis
    • Oxford Instruments Asylum Research
    • Scienta Omicron

    詳細を見る

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