Scroll Up

ニュースレター

最新の画像、解析、測定に関するDigital Surfからのニュースを常に把握しておいてください。

私はこのニュースレターを受け取ることに同意します。また、私はいつでも簡単に解約することができることも理解しています。
ご 覧 の 文字 を 入 力 し て く だ さ さ :

Newsletter

MountainsSpectral®の特徴

スペクトルの処理と解析
  • 解析用のスペクトルを取得します。 ベースラインを補正&ノイズを除去するフィルター
  • ピークフィッティング
  • KnowItAllのスペクトルデータベースライブラリにエクスポート
  • 使用帯の表示
  • 多変量解析の実行

スペクトルの処理と解析

  • 個別のスペクトル曲線または一連のスペクトルの可視化と解析
  • 解析用のスペクトルを取得します。 ベースラインを補正&ノイズを除去するフィルター
  • さまざまな表示オプション（スタイル、アクシス、表示するカーブ、エンベロープなど）へのアクセス
  • 手動または自動によるピークの検出、フィッティング
  • パラメータマップの生成
  • 分光画像（Raman 、IR：FTIR、ATR、NIR）から、Wiley社のKnowItAllソフトウェアに直接スペクトルを送ることで、簡単に成分解析を実施できます。
  • 色付き画像としてスペクトル帯の表示
  • 多変量解析を使用して、データキューブを多数の重要なスペクトルに削減します。
スペクトルマップの処理
  • ラマン、カソードルミネッセンス、フォトルミネッセンス、蛍光、EDX/EDS、およびEELSマップの処理
  • レンダリング、パレット、色の混合、透明度を最適化

スペクトルマップの処理

  • ラマン、カソードルミネッセンス、フォトルミネッセンス、蛍光、EDX/EDS、およびEELSマップの処理
  • レンダリングに使用するデータのレイヤーを選択します
  • 色の混合ツール: レイヤーカラーを混合するか、ドミナントカラーを使用するかを選択します
  • 画像のノイズを低減
  • 透明度レベルを調整する
画像の処理と強化
  • 分光技術によって得られた画像を補正および強化します。 スムージングフィルターを適用し、画像のノイズを除去し、照明を設定し、明るさとコントラストをインタラクティブに調整します。

画像の処理と強化

  • 分光技術によって得られた画像を補正および強化します
  • スムージングフィルターを適用し、画像のノイズを除去し、照明を設定し、明るさとコントラストをインタラクティブに調整します。
相関解析
  • 単一の機器または複数の機器からの画像とスペクトルマップのコローカライゼーション
  • 様々なソースからの情報を単一のマルチモーダルデータセットに結合

相関解析

  • 単一の機器または複数の機器(ラマン分光法、カソードルミネッセンス、蛍光、EDX、EELS、AFM、SEMなど)からの画像とスペクトルマップのコローカライゼーション
  • 様々なソースからの情報を単一のマルチモーダルデータセットに結合
画像に合成データをオーバーレイ
  • EDS/EDXマップで「3D」効果を作成
  • EDS/EDXマップまたはその他のスペクトル/構成データをSEM画像(または、使用可能な場合はSEM画像から再構成されたトポグラフィー)と関連付けて、素晴らしいレンダリングを作成します。

画像に合成データをオーバーレイ

  • 可能な場合はいつでも、顕微鏡画像またはトポグラフィーデータとのコローカライゼーションによって3D化学マップを作成します(TERS、共焦点、SEMステレオ再構成など)。
  • 単一のSEM画像または光学顕微鏡画像を背景として使用して、3Dテクスチャ効果のある化学マップを生成します
素材の組成をフル3Dで見る
  • トモグラフィーと化学解析の関連付け
  • 構成データの3Dマルチチャネルキューブの読み込み(「ケミカル」キューブ)

素材の組成をフル3Dで見る

  • トモグラフィーと化学解析の関連付け
  • 材料ごとに1つ、複数のチャネルとして各ボクセルを解析(例えば、共焦点ラマン、EDXイメージングモードでFIB – SEMを使用)
  • 動的な画像のセグメンテーションとフィルタリングなど、広範な可視化とアニメーションの設定から選択
  • 色の混合と3D画像のセグメンテーションを同時に使用して、1つの材料の粒子がキューブ内の他の粒子と比較してどこに位置するかを確認
  • ワンクリックで各素材を表示/非表示にします(他の素材を表示したい場合は、素材を「切り取る」を選択します)
  • スライスをカラー画像として抜き出し
  • キューブを任意の直交方向に切断して、2D解析用のマルチチャネル画像(化学マップ)を抜き出す
  • マルチチャネルキューブからシェル解析対象(自由曲面)を生成して、粒子の形態を解析
  • キューブデータから直接粒子と粒子の統計を生成

    ご覧の文字を入力してください。: captcha

    メリット

    常に作業を追跡する

    • Mountains®独自の解析ワークフローにより、ユーザーはデータにすでに適用されているすべての解析ステップを確認できます
    • 任意のステップをいつでも更新。依存するステップは自動的に更新。

    メリット

    公開&レポート作成が簡単

    • 「解析しながら」文書レイアウトに整理された処理
    • 作業をPDFおよびWordフォーマットで保存し、同僚、学生、クライアントとの共有が簡単にできます。
    • 独自のチュートリアルテンプレートを作成して、図解やコメント付きの解析レシピを同僚や学生と共有できます。

    メリット

    パワフルな自動化

    • 解析処理をスピードアップ
    • 他のデータセットに解析ステップを再適用するためのテンプレートを構築する

    メリット

    お好きな言語で作業およびヘルプを得ることができる

    • MountainsSpectral®ユーザーインターフェイスで利用可能な11種類の言語から選択して作業
    • 国際的なサポートチームがソフトウェアの使用をサポート

    メリット

    優れた互換性と表面解析の専門知識

    • さまざまな分光法から得られるデータの処理（Raman、TERS、FT、IR、nanoIR、蛍光、フォトルミネッセンス、カソードルミネッセンス、EDX/EDS、XRF）
    • 世界中で22,000以上ものMountains®ユーザーが参加
    • 主要メーカーが選択および提供する表面解析ソフトウェアを使用
    • 国際的な大手解析室がMountains®(NIST、NPL、PTB、LNEなど)の精密さを信頼しています。

    製品を選択

    MountainsSpectral® Premium

    MountainsSpectral® Expert

    MountainsSpectral® Correlate

    MountainsSpectral® Analyze

    機器の互換性

    分光技術: ラマン、TERS、IR、nanoIR、蛍光、フォトルミネッセンス、カソードルミネッセンス、EDX/EDS、XRF

    製品の特徴

    スペクトルマップの処理、強化、合成

    画像の修正と向上

    トポグラフィー解析(例: AFM画像に基づく)

    トモグラフィー上の構成データの高品質オーバーレイ

    スペクトルの高度な処理と解析

    オプションモジュール

    相関顕微鏡

    分光法

    粒子解析

    		 Option Option

    マルチチャネル(化学)キューブの可視化と解析

    		 Option Option

    ファイバー解析

    		 Option Option Option

    IV分光法

    		 Option Option

    フォースカーブ解析

    		 Option Option

    限界寸法と溝

    		 Option

    シェル（自由曲面）のサポート

    		 Option
    付属
    Option
    オプションとして利用可能
    互換性がありません

    推奨オプションモジュール

    MountainsSpectral®のでは、高度かつ特別なアプリケーションに向けた以下のオプションモジュールがあります。

    Particle Analysis Module

    構造化された表面の粒子、細孔、粒子、島などを検出および解析するための包括的なツールセット
    Chemical Cubes Module

    構成データのマルチチャネルキューブの完全な可視化と解析
    Fiber Analysis Module

    SEM画像（SEモードとBSEモード）、光学顕微鏡画像、地形データの直径と方向などの繊維形態を解析します。
    IV Spectroscopy Module

    IV分光画像の3D可視化と解析および個々のIV曲線解析(CITSデータを含む)
    Critical Dimensions & Trenches Module

    重要な寸法を計算し、半導体製造プロセスにおけるラインエッジの粗さ/ライン幅の粗さを特徴づけます。
    詳細情報

    30日間の無料トライアル

    Free trial

    Mountains® 11ソフトウェアを無料でお試しいただけます

    無料試用版