Cours vidéo de métrologie des états de surface

Introduction à la caractérisation des états de surface

Cette vidéo présente les raisons pour lesquelles les états de surface sont spécifiés et vérifiés sur les pièces industrielles, et donne les bases à connaître avant de se lancer dans leur utilisation.
Durée : 14 min 36

Indications sur les dessins d'une spécification d'états de surface

Cette vidéo présente les règles d'indication graphique d'une spécification d'états de surface sur un plan technique, selon l'ISO 1302. Les modifications introduites par la nouvelle norme ISO 21920-1 sont également discutées.
Durée : 14 min 28

Introduction au filtrage

Cette video présente les bases du filtrage en états de surface et explique l'effet des filtres sur le contenu spectral des profils et surfaces.
Durée : 19 min 40

Préparation des mesures optiques

Cette présentation traite de la préparation et du nettoyage des mesures de surfaces effectuées à l'aide d'un profilomètre optique 3D, afin d'éliminer les points aberrants et de traiter les points non mesurés. Cette opération préalable est indispensable avant l'analyse métrologique afin de garantir la validité des résultats.
Durée : 14 min 24

Différences entre l'ISO 21920 et les normes précédentes

Cette vidéo décrit les nouveautés introduites par la norme ISO 21920 d'état de surface sur profils, par rapport aux normes précédentes, ISO 4287, ISO 4288, ISO 1302, ISO 13565, etc.
Durée : 13 min 57

Paramètres 2D d'amplitude

Introduction aux paramètres d'amplitude calculés sur un profil, tels que Rp, Rv, Rz, Ra, Rq, Rsk, Rku, conformément à la norme ISO 4287.
Durée : 11 min 39

Introductions aux profilomètres à contact

Cette présentation traite de la préparation et du nettoyage des mesures de surfaces effectuées à l'aide d'un profilomètre optique 3D, afin d'éliminer les points aberrants et de traiter les points non mesurés. Cette opération préalable est indispensable avant l'analyse métrologique afin de garantir la validité des résultats.
Durée : 14 min 24

Quiz de métrologie des états de surface

Testez vos connaissances avec un test en dix questions sur les états de surface surfaciques. La vidéo énonce les questions et vous laisse cinq secondes pour y répondre (plusieurs réponses possibles par question).
Durée : 7 min 05

Répondez en utilisant le formulaire suivant : Formulaire de réponse. Les solutions sont données dans le document suivant : Solutions au quiz (à ne regarder qu'après avoir répondu au quiz...) Une solution détaillée et expliquée sera prochainement fournie sous la forme d'une autre vidéo.

Analyse multi-échelle des surfaces (Partie 1)

Exposé donné par Professeur Christopher Brown du WPI lors du séminaire de métrologie de Digital Surf à Paris. La première partie traite des notions d'échelle d'observation des surfaces et d'échelle d'interaction des phénomènes, préparant le terrain à l'analyse multi-échelle des surfaces.
Les diapos de la présentation sont disponibles au format PDF pour plus de lisibilité sur l'écran pendant l'exposé : Diapositives de l'exposé.
Durée : 34 min 03

Analyse multi-échelle des surfaces (Partie 2)

Exposé donné par Professeur Christopher Brown du WPI lors du séminaire de métrologie de Digital Surf à Paris. La deuxième partie traite des méthodes d'analyse fractales length-scale, area-scale et filling-scale, développées initialement dans le logiciel Sfrax par Chris Brown et désormais disponibles dans le logiciel Mountains.
Les diapos de la présentation sont disponibles au format PDF pour plus de lisibilité sur l'écran pendant l'exposé : Diapositives de l'exposé.
Durée : 22 min 46

Filtrage passe-bande

Exposé sur le filtrage passe bande, obtenu à l'aide de deux filtres gaussiens classiques, dans le but de limiter la bande passante d'analyse et réaliser une exploration multi-échelle de l'état de surface. Cela permet également l'établissement de corrélations fonctionnelles.
Les diapos de la présentation sont disponibles au format PDF pour plus de lisibilité sur l'écran pendant l'exposé : Diapositives de l'exposé.
Durée : 22 min 23

Corrélation fonctionnelle

Exposé donné par Professeur Christopher Brown du WPI lors du séminaire de métrologie de Digital Surf à Paris. Cet exposé traite de la détermination de corrélations fonctionnelles entre l'analyse multi-échelle des surfaces et la fonction ou les performances d'une pièce.
Les diapos de la présentation sont disponibles au format PDF pour plus de lisibilité sur l'écran pendant l'exposé : Diapositives de l'exposé.
Durée : 25 min 10

Paramètres surfaciques de l'ISO 25178-2 (partie 1)

Cette vidéo présente les paramètres surfaciques de hauteur et les paramètres liés à la courbe d'Abbott, y compris les paramètres fonctionnels Sk et de volume.
Les diapos de la présentation sont disponibles au format PDF pour plus de lisibilité sur l'écran pendant l'exposé : Diapositives de l'exposé.
Durée : 21 min 12

Paramètres surfaciques de l'ISO 25178-2 (partie 2)

Cette vidéo présente les paramètres surfaciques hybrides et les paramètres de motifs calculés par segmentation des éléments de la texture.
Les diapos de la présentation sont disponibles au format PDF pour plus de lisibilité sur l'écran pendant l'exposé : Diapositives de l'exposé.
Durée : 19 min 48

Partie 1 - Profilomètres à contact

Fonctionnement de l'unité d'avance, du capteur avec le pivot et le stylet. Corrections et étalonnage. Profilomètres d'atelier à patin, profilomètre de table à colonne. Profilomètre low-force.
Durée : 21 min 50

Partie 2 - Profilomètres sans contact

Architecture d'un profilomètre 3D sans contact. Capteur confocal chromatique, capteur autofocus. Mesure de surfaces transparentes.
Durée : 16 min 35

Partie 3 - Microscopes 3D confocaux

Principe optique confocal. Mesure des coupes optiques par balayage vertical. Microscopes LSM, à disque de Nipkov, à matrices DLP. Principaux fabricants d'instruments.
Durée : 9 min 48

Partie 4 - Microscopes 3D interférentiels

Principe de l'interférométrie. Mesure par analyse des interférogrammes. Différents types d'objectifs. Principaux fabricants d'instruments.
Durée : 8 min 45

Partie 5 - Microscopes multifocus

Fonctionnement de la mesure. Avantages et inconvénients.
Durée : 3 min

Partie 6 - Microscopes à champ proche

Principe général de la microscopie en champ proche. Microscope à force atomique, à effet tunnel. Mesure de signaux multicouches.
Durée : 14 min 18